[发明专利]自发光显示屏校正方法及装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202210343781.9 | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN114724509A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 耿俊成;李鑫辉;冯继雄;李保梁 | 申请(专利权)人: | 北京集创北方科技股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208;G09G3/32 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 显示屏 校正 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本公开涉及一种自发光显示屏校正方法及装置、电子设备和存储介质,所述方法包括:获取对自发光显示屏进行拍摄得到的图像,其中,自发光显示屏中至少一个第一灯珠点亮,至少一个第二灯珠熄灭,每个点亮的第一灯珠的相邻灯珠中至少有一个熄灭的第二灯珠;根据图像,针对每一第一灯珠对应的第一图像数据,根据相邻的第二灯珠对应的第二图像数据,对第一图像数据进行校正,得到第三图像数据;在至少部分第二灯珠点亮后,重新执行获取对自发光显示屏进行拍摄得到的图像及之后的步骤,直到得到自发光显示屏中所有灯珠的第三图像数据。本公开实施例可以基于第三图像数据,对自发光显示屏进行更精确的校正。
技术领域
本公开涉及显示技术领域,尤其涉及一种自发光显示屏校正方法及装置、电子设备和存储介质。
背景技术
发光二极管(Light-Emitting Diode,LED)显示屏、有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode,OLED)微型发光二极管(MicroLight-Emitting Diode,MicroLED)显示屏和次毫米发光二极管(MiniLight-Emitting Diode,MiniLED)显示屏等各种类型的自发光显示屏在生产过程中,灯珠的材料工艺和生产封装工艺等可能会导致LED/OLED/MicroLED/MiniLED显示屏中不同的灯珠衰减程度不同,进而在使用过程中出现整屏衰减不一致的情况。因此,在自发光LED/OLED/MicroLED/MiniLED显示屏交付前,通常需要对自发光显示屏进行逐点地校正。相关技术中,通常需要对自发光显示屏进行拍摄,根据拍摄图像确定自发光显示屏中每个灯珠校正需要的补偿数据。然而,在此过程中,拍摄图像可能会受到外界环境光的影响,特别是由于拍照曝光时间较长,外界环境光很难保持稳定,这就会导致根据拍摄图像得到的补偿数据的精确度较低,进而影响对自发光显示屏的校正效果。
发明内容
有鉴于此,本公开提出了一种自发光显示屏校正方法及装置、电子设备和存储介质,有效减小外界环境对自发光显示屏校正的影响。
根据本公开的一方面,提供了一种自发光显示屏校正方法,包括:获取对自发光显示屏进行拍摄得到的图像,其中,所述自发光显示屏中至少一个第一灯珠点亮,至少一个第二灯珠熄灭,每个点亮的第一灯珠的相邻灯珠中至少有一个熄灭的第二灯珠;根据所述图像,获取第一灯珠对应的第一图像数据,和第二灯珠对应的第二图像数据;针对每一第一灯珠对应的第一图像数据,根据相邻的第二灯珠对应的第二图像数据,对所述第一图像数据进行校正,得到第三图像数据;在至少部分所述第二灯珠点亮后,重新执行获取对自发光显示屏进行拍摄得到的图像及之后的步骤,直到得到所述自发光显示屏中所有灯珠的第三图像数据;根据所有灯珠的所述第三图像数据对所述自发光显示屏进行校正。
在一种可能的实现方式中,所述针对每一第一灯珠对应的第一图像数据,根据相邻的第二灯珠对应的第二图像数据对所述第一图像数据进行校正,得到第三图像数据,包括:获取所述第一灯珠相邻的第二灯珠对应的第二图像数据的均值;根据所述第一图像数据与所述均值之差,确定所述第一灯珠的第三图像数据。
在一种可能的实现方式中,每个灯珠的第三图像数据为该灯珠的至少一个第三图像数据的均值。
在一种可能的实现方式中,所述根据所有灯珠的所述第三图像数据对所述自发光显示屏进行校正,包括:根据所有灯珠的第三图像数据,确定针对所述自发光显示屏的补偿数据;基于所述自发光显示屏的补偿数据,对所述自发光显示屏进行校正。
在一种可能的实现方式中,所述自发光显示屏至少包括下述至少一种:自发光LED显示屏、自发光OLED显示屏、自发光MicroLED显示屏和自发光MiniLED显示屏。
在一种可能的实现方式中,所述图像数据用于指示所述灯珠的色度和/或亮度。
在一种可能的实现方式中,所述图像数据至少包括CIE XYZ颜色空间数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京集创北方科技股份有限公司,未经北京集创北方科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210343781.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。