[发明专利]信号采样质量的确定方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开提供了一种信号采样质量的确定方法、电子装置、设备及存储介质，涉及量子计算领域，尤其涉及量子信号领域。具体实现方案为：基于第一采样参数对量子芯片的第一输出信号进行采样，获得第一采样数据；对该第一采样数据进行特征提取，得到第一特征提取结果；将该第一特征提取结果进行聚类，以确定采样质量分类结果。采用该方案，利用聚类方法对量子输出信号的采样质量进行评估，得到采样质量的精准分类结果，整个过程可以自动完成，大大提高了量子信号采样质量的评估效率。

技术领域

本公开涉及量子计算领域，尤其涉及量子信号领域，具体涉及一种信号采样质量的确定方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

为了以较高的精度实现量子芯片上的量子门，实验人员需要对量子芯片上每个量子比特的控制脉冲进行精密的校准，其方法是反复向量子芯片输入特定的控制脉冲并读出，经计算和分析后更新脉冲参数，反复迭代最终输出最优化的控制脉冲参数。然而，随着人类需求的增加以及量子芯片工艺的进步，量子芯片上集成的量子比特数目快速增多，使得寻找最优脉冲参数的过程需要花费大量时间人力，降低了工作效率。

发明内容

本公开提供了一种信号采样质量的确定方法、装置、电子设备以及存储介质。

根据本公开的第一方面，提供了一种信号采样质量的确定方法，包括：

基于第一采样参数对量子芯片的第一输出信号进行采样，获得第一采样数据；

对该第一采样数据进行特征提取，得到第一特征提取结果；

对该第一特征提取结果进行聚类，以确定采样质量分类结果。

根据本公开的第二方面，提供了采样质量分类模型的训练方法，包括：

基于多个第二采样参数分别对量子芯片的多个第二输出信号进行采样，获得多组第二采样数据；

对该多组第二采样数据分别进行特征提取，得到对应的多个第二特征提取结果；

利用该多个第二特征提取结果训练聚类模型，得到采样质量分类模型，该采样质量分类模型用于确定采样质量分类结果。

根据本公开的第三方面，提供了一种信号采样质量的确定装置，包括：

第一采样模块，用于基于第一采样参数对量子芯片的第一输出信号进行采样，获得第一采样数据；

第一提取模块，用于对该第一采样数据进行特征提取，得到第一特征提取结果；

分类模块，对该第一特征提取结果进行聚类，以确定采样质量分类结果。

根据本公开的第四方面，提供了采样质量分类模型的训练装置，包括：

第二采样模块，用于基于多个第二采样参数分别对量子芯片的多个第二输出信号进行采样，获得多组第二采样数据；

第二提取模块，用于对该多组第二采样数据分别进行特征提取，得到对应的多个第二特征提取结果；

训练模块，用于利用该多个第二特征提取结果训练聚类模型，得到采样质量分类模型，该采样质量分类模型用于确定采样质量分类结果。

根据本公开的第五方面，提供了一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与该至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

该存储器存储有可被该至少一个处理器执行的指令，该指令被该至少一个处理器执行，以使该至少一个处理器能够执行本公开任一实施例中的方法。

根据本公开的第六方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，该计算机指令用于使计算机执行本公开任一实施例中的方法。