[发明专利]一种超短脉冲激光延时测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210350676.8 申请日: 2022-04-02
公开(公告)号: CN114777917A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 刘柯阳;曹华保;付玉喜;王虎山;黄沛;王向林;林华;王屹山 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J11/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 超短 脉冲 激光 延时 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:包括第一分束片(3)、待测激光光路单元、参考激光光路单元、第二分束片(7)以及测量单元;

平行入射的第一超短脉冲激光(1)和第二超短脉冲激光(2)水平入射至第一分束片(3);

所述待测激光光路单元包括依次设置在第一分束片(3)反射光路中的第一反射镜(4)、第二反射镜(5)以及第三反射镜(6);

所述参考激光光路单元包括依次设置在第一分束片(3)透射光路中的第四反射镜(11)、延时线(12)、第五反射镜(13)、扩束系统(14)以及第六反射镜(15);

所述第二分束片(7)设置在待测激光光路单元和参考激光光路单元的出射光路上;

所述测量单元包括设置在第二分束片(7)出射光路上的光谱调制片(8)以及设置在光谱调制片(8)出射光路上的测量相机(9);

所述第一超短脉冲激光(1)和第二超短脉冲激光(2)经第一分束片(3)分束,将两束反射光束定义为第一待测激光和第二待测激光,将其中一束透射光束定义为参考激光;

所述第一待测激光和第二待测激光分别依次通过第一反射镜(4)、第二反射镜(5)以及第三反射镜(6)反射,后经第二分束片(7)反射,光谱调制片(8)透射后入射至测量相机(9);

所述参考激光通过第四反射镜(11)、延时线(12)以及第五反射镜(13)反射,后经扩束系统(14)扩束,第六反射镜(15)反射,第二分束片(7)和光谱调制片(8)透射,入射至测量相机(9)中。

2.根据权利要求1所述的一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:所述第一分束片(3)为低群延时色散、厚度小于4mm的窗口片。

3.根据权利要求2所述的一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:所述延时线(12)包括平移台、驱动平移台移动的驱动器以及两块呈90°放置在平移台上的反射镜。

4.根据权利要求3所述的一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:所述驱动器为压电驱动器。

5.根据权利要求4所述的一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:所述光谱调制片(8)为陷波滤波片。

6.根据权利要求5所述的一种超短脉冲激光延时测量装置,其特征在于:还包括光学垃圾桶(10),用于吸收第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光经第一分束片分束后的另一束透射光束。

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