[发明专利]量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备有效
申请号: | 202210352824.X | 申请日: | 2022-04-06 |
公开(公告)号: | CN114429096B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 官极;黄鸣宇;应明生 | 申请(专利权)人: | 北京中科弧光量子软件技术有限公司;中国科学院软件研究所 |
主分类号: | G06F30/33 | 分类号: | G06F30/33;G06N10/20 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 陈熙 |
地址: | 100086 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 量子 电路 故障 仿真 方法 系统 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种量子电路的故障仿真方法,其特征在于,包括:
获取待测试故障量子电路所对应的超算子,并获取所述超算子中的每个逻辑超算子所分别对应的Kraus矩阵集合;
从每个Kraus矩阵集合中分别选取一个Kraus矩阵,并基于输入状态数据和期望输出状态数据,计算一个张量网络收缩,直至遍历选取每个Kraus矩阵集合中的每个Kraus矩阵,得到多个张量网络收缩;其中,所述期望输出状态数据指:将所述输入状态数据输入已消除故障的待测试故障量子电路时,所输出的数据;
基于所有的张量网络收缩,计算所述待测试故障量子电路中的故障的故障影响率;
从每个Kraus矩阵集合中分别选取一个Kraus矩阵,并基于输入状态数据和期望输出状态数据,计算出的张量网络收缩为:,其中,表示所有逻辑超算子的总数量,表示的复数共轭转置,表示所述期望输出状态数据,表示:第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的第个Kraus矩阵;,表示所述输入状态数据,,,,表示第1个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,表示第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,表示第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,、、、和均为正整数;
所述故障影响率为:,其中,表示的复数共轭,表示与进行复数相乘。
2.一种量子电路的故障仿真系统,其特征在于,包括获取模块、第一计算模块和第二计算模块;
所述获取模块用于:获取待测试故障量子电路所对应的超算子,并获取所述超算子中的每个逻辑超算子所分别对应的Kraus矩阵集合;
所述第一计算模块用于:从每个Kraus矩阵集合中分别选取一个Kraus矩阵,并基于输入状态数据和期望输出状态数据,计算一个张量网络收缩,直至遍历选取每个Kraus矩阵集合中的每个Kraus矩阵,得到多个张量网络收缩;其中,所述期望输出状态数据指:将所述输入状态数据输入已消除故障的待测试故障量子电路时,所输出的数据;
所述第二计算模块用于:基于所有的张量网络收缩,计算所述待测试故障量子电路中的故障的故障影响率;
所述第一计算模块具体用于:
从每个Kraus矩阵集合中分别选取一个Kraus矩阵,并基于输入状态数据和期望输出状态数据,计算出的张量网络收缩为:,其中,表示所有逻辑超算子的总数量,表示的复数共轭转置,表示所述期望输出状态数据,表示:第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的第个Kraus矩阵;,表示所述输入状态数据,,,,表示第1个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,表示第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,表示第个逻辑超算子所对应的Kraus矩阵集合中的Kraus矩阵的总数量,、、、和均为正整数;
所述故障影响率为:,其中,表示的复数共轭,表示与进行复数相乘。
3.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有指令,当计算机读取所述指令时,使所述计算机执行如权利要求1所述的一种量子电路的故障仿真方法。
4.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和权利要求3所述的存储介质,所述处理器执行所述存储介质中的指令。
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