[发明专利]一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统在审

专利信息
申请号: 202210364118.7 申请日: 2022-04-07
公开(公告)号: CN114705966A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 彭健;徐昌明;张暹阳;方锐 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R19/00;G01R1/04;G01R1/02
代理公司: 安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 代理人: 徐文恭
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 cspbbr3 薄膜 用光 性能 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,包括终端系统,其特征在于:所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块,控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块,测试模块信号连接有故障点模块,故障点模块信号连接有成像模块,成像模块信号连接有显示端。

2.根据权利要求1所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述控制模块分别信号连接有测试夹具和电路设备。

3.根据权利要求2所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述测试夹具分别信号连接有一级光电设备、二级光电设备和三级光电设备,电路设备分别信号连接有一级电路模块、二级电路模块和三级电路模块。

4.根据权利要求1所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述检测模块分别信号连接有校正模块、分析模块和监测模块。

5.根据权利要求4所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述校正模块分别信号连接有编码模块和循环模块。

6.根据权利要求4所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述分析模块分别信号连接有极差分析模块和灵敏度分析模块。

7.根据权利要求4所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述监测模块分别信号连接有电压比模块和电流比模块。

8.根据权利要求1所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述成像模块分别信号连接有采集模块和计算模块。

9.根据权利要求8所述的一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,其特征在于:所述采集模块分别信号连接有警告模块和记录模块,计算模块分别信号连接有储存模块和反馈模块。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学,未经武汉理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210364118.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top