[发明专利]一种碳基压阻薄膜传感器及其制备方法和应用在审

专利信息
申请号: 202210366465.3 申请日: 2022-04-08
公开(公告)号: CN114894353A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 代伟;吴亮;王启民 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;C23C14/35;C23C14/04;C23C14/06;C23C14/32
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 苏晶晶
地址: 510090 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 碳基压阻 薄膜 传感器 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述碳基压阻薄膜传感器由耐磨层、传感层、绝缘层和电极层组成;

所述耐磨层、传感层和绝缘层均为碳基薄膜材料;

所述传感层为类金刚石碳膜;

所述类金刚石碳膜中sp3-C键含量为30%~50%。

2.如权利要求1所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述传感层中sp3-C键含量为35%~45%。

3.如权利要求1所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述绝缘层为硅、氧共掺杂的类金刚石碳膜。

4.如权利要求3所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述绝缘层中硅的含量为10~15%,氧的含量为20~30%。

5.如权利要求1所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述耐磨层为四面体非晶碳膜。

6.如权利要求5所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述耐磨层中sp3-C键含量≥60%。

7.如权利要求6所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述耐磨层中sp3-C键含量为60~80%。

8.如权利要求1所述碳基压阻薄膜传感器,其特征在于,所述传感层的厚度为200~600nm。

9.一种权利要求1~8任一项所述碳基压阻薄膜传感器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1.在基体表面上,采用磁控溅射沉积下绝缘层;

S2.在S1中下绝缘层的基础上,采用掩饰法和磁控溅射沉积电极层;

S3.在S2中电极层的基础上,采用掩饰法和磁控溅射沉积类金刚石碳膜传感层;

S4.在S3中类金刚石碳膜传感层基础上,采用磁控溅射沉积上绝缘层;

S5.在S4中上绝缘层的基础上,采用阴极电弧沉积耐磨层,即可获得碳基压阻薄膜传感器。

10.一种权利要求1~8任一项所述碳基压阻薄膜传感器在耐磨工件传感中的应用。

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