[发明专利]一种显微内窥镜的分辨率及工作距测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种显微内窥镜分辨率的测试装置，包括光源、分辨率板、靶标成像模块、待测显微内窥镜及第二成像装置，靶标成像模块包括管镜、显微物镜，在测试光路中，光源的光线依次经过分辨率板、管镜、显微物镜及待测显微内窥镜后于第二成像装置中成像，其中，靶标成像模块用于将分辨率板的图案成像于显微物镜的物方焦面上，调节显微物镜的物方焦面与待测显微内窥镜的物面重合，分辨率板的图案经靶标成像模块在待测显微内窥镜的物面上形成的像用于测试待测显微内窥镜的分辨率。

技术领域

本发明涉及光电成像器件性能测试领域，尤其涉及一种显微内窥镜的分辨率及工作距测试装置及测试方法。

背景技术

显微内窥镜产品在临床上普遍用于耳鼻喉科、泌尿外科、妇科、眼科、骨科、神经外科、医美整形等科室，适用于耳镜、鼻窦镜、鼻咽镜、腹腔镜、宫腔镜、关节镜、椎间孔镜、纤维支气管镜等各种内镜领域。显微内窥镜多用于微创手术，该产品的各个性能参数是医生使用该产品的依据，性能参数的精度及准确性可能会影响术中操作，关系着患者的生命健康。可见，对其性能参数的测量是显微内窥镜产品出厂前的必要环节，但测量性能参数的准确性是产品质量的重要因素。

在显微内窥镜产品的出厂参数中很重要的一项是分辨率，分辨率越高，感应到的图像越精密，而在屏幕尺寸一样的情况下，显示效果就越精细和细腻，在微创手术中越能满足医生的需求。目前，对于显微内窥镜分辨率的测量方式，常采用直接在显微内窥镜前面放置分辨率板来测量分辨率，但该测量方式存在一些缺点，能测量分辨率，但是不能很精确地测量工作距，要测量内窥镜的工作距，只能外部架设高度计，由于内窥镜尺寸很小，高度计操作起来非常不方便，工装复杂而且不易保证精度。如果采用时域OCT的办法，由于分辨率板的图案会挡光，不能直接测量工作距，必须移开分辨率板，测量无图案区域至内窥镜前端的距离代表其工作距，由于图案自身还具有一定厚度，因此这种工作距测量有误差且移动分辨率板需要高精度平移台，代价非常昂贵。另外，分辨率板的分辨率越高，则对其制作精度要求也越高，其制作难度随之也会越大，导致成本也越高。

因此，如何能更好地检测显微内窥镜的分辨率是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

为此，本发明提供了一种显微内窥镜的分辨率及工作距测试装置及测试方法，该测试装置结合对应的测试方法实现非接触式测量，不仅提高了对显微内窥镜分辨率的测量精度，还降低了对分辨率板的制作精度，且在分辨率测量完成时也能得出显微内窥镜的最佳工作距。

为实现上述目的，本发明主要采用以下技术方案：

一种显微内窥镜分辨率的测试装置，包括光源、分辨率板、靶标成像模块、待测显微内窥镜及第二成像装置，所述靶标成像模块包括管镜、显微物镜，在测试光路中，所述光源的光线依次经过所述分辨率板、所述管镜、所述显微物镜及所述待测显微内窥镜后于所述第二成像装置中成像，其中，所述靶标成像模块用于将所述分辨率板的图案成像于所述显微物镜的物方焦面上，调节所述显微物镜的物方焦面与所述待测显微内窥镜的物面重合，所述分辨率板的图案经所述靶标成像模块在所述待测显微内窥镜的物面上形成的像用于测试所述待测显微内窥镜的分辨率。

优选地，还包括光轴调校模块，所述光轴调校模块用于使所述待测显微内窥镜的光轴与所述测试装置的系统光轴同轴。

优选地，还包括干涉测量模块，所述干涉测量模块用于测量所述显微内窥镜的工作距。

优选地，还包括匀光板，所述匀光板用于将所述光源的光线转变成面光。

优选地，所述干涉测量模块包括二向色镜及时域OCT系统，所述二向色镜设置于所述管镜与所述显微物镜之间。

优选地，所述二向色镜在可见光波段透过率大于98％，对于所述短相干光源的激光波段反射率大于98％。

优选地，所述显微物镜的数值孔径大于所述待测显微内窥镜的数值孔径。