[发明专利]一种用于检测Hg2+

权利要求书

1.一种用于检测Hg²⁺的铱(III)配合物敏化NiO光阴极的制备方法，其中铱(III)配合物([(PM-ppy)₂Ir(daf-Rh)]PF₆)的结构式为：

包括以下步骤：

(1)NiO修饰ITO电极的制备：首先将面积固定的ITO电极按顺序依次放入无水乙醇、丙酮、无水乙醇、超纯水中清洗并干燥。然后将电极浸入到含有Ni(NO₃)₂·6H₂O和六亚甲基四胺的混合溶液中，在电热恒温鼓风干燥箱中加热，并自然冷却到室温。用超纯水冲洗后自然干燥。最后将ITO电极置于马弗炉中淬火，得到NiO修饰的电极(NiO/ITO)。

(2)铱(III)配合物敏化NiO光阴极的制备：将步骤(1)制备的NiO/ITO电极浸泡在铱(III)配合物([(PM-ppy)₂Ir(daf-Rh)]PF₆)溶液中12小时，电极依次使用DMF和CH₃CN洗涤后，自然干燥得到铱(III)配合物敏化NiO光阴极([(PM-ppy)₂Ir(daf-Rh)]PF₆/NiO/ITO)。

(3)Hg²⁺的检测：将步骤(2)制备的光阴极[(PM-ppy)₂Ir(daf-Rh)]PF₆/NiO/ITO浸泡在含有不同浓度Hg²⁺的(0.1M，pH＝7.4)的缓冲溶液中5分钟，以[(PM-ppy)₂Ir(daf-Rh)]PF₆/NiO/ITO作为工作电极记录光电流。采用可见光进行激发，实现对不同浓度Hg²⁺的光电信号响应。

2.根据权利要求1所述方法制备得到的铱(III)配合物敏化NiO光阴极在Hg²⁺检测中的应用。