[发明专利]一种新型拔码开关检测方法

说明书

本发明涉及一种新型拔码开关检测方法，包括多个I/O端口；拨码开关上若干个输出端口并联后连接到一个所述I/O端口，使该I/O端口成为测量输出端；所述拨码开关上的每个输入端口经过二级管和电阻后连接电源；所述二级管和电阻的连接点与一个所述I/O端口相连，形成测量输入端；所述测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，且测量输入端数和测量输出端数之和为最小；将某一路测量输出端赋值低电平，依次检测每一路测量输入端的电平，根据测量输入端的电平情况确定相关拨码开关通路的通断情况；分别对其他的测量输出端赋值低电平，重复上述步骤，对全部拨码开关的通路进行检测。本发明可不占用芯片特殊端口，并使检测用的端口占用数量最少。

技术领域

本发明涉及一种电子技术，尤其是一种涉及检测的电子技术，具体的说是一种新型拔码开关检测方法。

背景技术

为了降低开发成本，在项目开发的芯片选型时，选择芯片的管脚不会超出实际使用太多，往往会尽量控制芯片的管脚数量。但是，随着应用产品的功能多样化，如空调智能化、节能化、洁净化等功能的普及，需要增加一些参数的检测，如CO2、TVOC、 PM2.5等。此时，受限于芯片管脚的限制，大都采用更换芯片或优化拨码开关的方法。然而，更换芯片不仅增加开发时间和开发成本，影响项目进度，还容易造成浪费资源。使用避免开关时，必须先对拨码开关的状态进行检测。目前，大都是采用一对一的方法对拨码开关的每个通路进行检测，因而需要配备大量的芯片端口，造成芯片资源的浪费。

因此，需要加以改进，以便更好的满足市场需求。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种新型拔码开关检测方法，可在拔码开关的检测过程中不占用特殊端口，并使端口占用数量最少，节省芯片端口资源。

本发明的技术方案是：

一种新型拔码开关检测方法，包括多个I/O端口；

拨码开关上若干个输出端口并联后连接到一个所述I/O端口，使该I/O端口成为测量输出端；

所述拨码开关上的每个输入端口经过二级管和电阻后连接电源；所述二级管和电阻的连接点与一个所述I/O端口相连，形成测量输入端；

所述测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，且测量输入端数和测量输出端数之和为最小；

将某一路测量输出端赋值低电平，依次检测每一路测量输入端的电平；如果测量输入端为低电平，则该路测量输入端连接的拨码开关通路为ON，否则为OFF；

分别对其他的测量输出端赋值低电平，重复上述步骤，对全部拨码开关的通路进行检测。

进一步的，所述测量输入端均匀或不均匀的与拨码开关的输入端相连。

进一步的，所述测量输出端均匀或不均匀的与拨码开关的输出端相连。

本发明的有益效果：

本发明设计合理，结构简单，实施方便，可在拔码开关的检测过程中不占用特殊端口，并使检测用的端口占用数量最少，极大的节省了芯片端口资源，充分满足市场需求。

附图说明

图1为本发明的电路结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

如图1所示。

一种新型拨码开关检测电路，包括9个I/O端口：SW1、SW2、SW3、SW4和SW5，以及SW_I01、SW_I02、 SW_I03 和SW_I04。拨码开关为3个：S1、S2和S3。其中，S1包括8路通路16个端口；S2包括6路通路12个端口；S3包括6路通路12个端口。3个拨码开关总计20个通路。

所述I/O端口SW_I01、SW_I02、SW_I03 和SW_I04为测量输出端。所述I/O端口SW1、SW2、SW3、SW4和SW5为材料输入端口。