[发明专利]基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法

权利要求书

1.一种基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，包括转台、面测量组件、形貌测量组件、标准板和主探测组件；

所述转台的顶部设有用于放置珍珠的台面；

所述面测量组件和所述形貌测量组件均可移动式设于所述转台的外围，且所述面测量组件具有面光源端，所述形貌测量组件具有形貌测量光源端，所述面光源端和所述形貌测量光源端均对应朝向所述转台，用于照射珍珠；

所述标准板设于所述转台背向所述面测量组件和所述形貌测量组件的一侧，所述标准板在所述面光源和所述形貌测量光源照射珍珠时形成反射光；

所述主探测组件设于所述面测量组件和所述形貌测量组件之间，且所述主探测组件对应朝向所述转台，所述主探测组件接收来自珍珠的光斑信号以及珍珠和所述标准板的反射光，并结合所述标准板定标珍珠的指标参数;

所述形貌测量组件包括电控平移台以及固接设于所述电控平移台的形貌测量模块；

所述形貌测量模块为轮廓测量仪和/或共聚焦显微镜和/或干涉显微镜；

所述形貌测量模块通过所述电控平移台对所述形貌测量模块进行平移控制定位，所述形貌测量模块对珍珠表面的形貌结构进行扫描；

所述主探测组件包括主探测滑动台以及固接于所述主探测滑动台的主探测器；

所述标准板包括光泽度板、标准白板、线纹尺和标准台阶；

所述光泽度板用于定标所述主探测器的光泽度测量结果；

所述标准白板用于定标所述主探测器的颜色测量结果；

所述线纹尺用于定标所述主探测器的尺寸和圆度测量结果；

所述标准台阶用于定标所述主探测器的光洁度测量结果。

2.根据权利要求1所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，还包括主控计算机；

所述主控计算机的控制输入端与所述探测组件之间通过电路相连，通过所述主控计算机自动控制接收来自所述探测组件的指标参数并显示、分级。

3.根据权利要求1所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，还包括导轨；

所述转台基于垂直设置的中心轴旋转，所述导轨为弧形或环形导轨，且弧形或环形所述导轨以所述转台的中心轴为圆心围设于所述转台的外围；

所述面测量组件和所述形貌测量组件分别滑动设于所述导轨。

4.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，

所述面测量组件包括面测量滑动台以及固接于所述面测量滑动台的面光源；

所述面测量滑动台滑动设于所述导轨，所述面光源朝向所述转台的中心轴，通过所述面光源照射珍珠，在珍珠的表面形成面光源光斑；

所述主探测组件获取所述面光源光斑，计算珍珠的光泽度参数。

5.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，

所述形貌测量组件包括形貌测量滑动台以及固接于所述形貌测量滑动台的形貌测量光源；

所述形貌测量滑动台滑动设于所述导轨，所述形貌测量光源朝向所述转台的中心轴，通过所述形貌测量光源照射珍珠，在珍珠的表面形成形貌光源光斑；

所述主探测组件获取所述形貌光源光斑，计算珍珠的光洁度参数。

6.根据权利要求3所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，

所述主探测滑动台滑动设于所述导轨，所述主探测器朝向所述转台，通过所述主探测器接收来自珍珠的光斑信号及珍珠和所述标准板的反射光。

7.根据权利要求1所述的基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置，其特征在于，还包括导轨；

所述转台基于垂直设置的中心轴旋转，所述导轨为弧形或环形导轨，且弧形或环形所述导轨以所述转台的中心轴为圆心围设于所述转台的外围；

所述面测量组件和所述主探测组件分别滑动设于所述导轨；

所述形貌测量组件与所述导轨之间分离设置。