[发明专利]基于超声阵列底面反射法的各向异性材料损伤评价方法在审
申请号: | 202210376921.2 | 申请日: | 2022-04-12 |
公开(公告)号: | CN114778676A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 罗忠兵;林莉;康金丽;金士杰 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/44 |
代理公司: | 大连星海专利事务所有限公司 21208 | 代理人: | 杨翠翠 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 超声 阵列 底面 反射 各向异性 材料 损伤 评价 方法 | ||
1.基于超声阵列底面反射法的各向异性材料损伤评价方法,其特征在于:基于超声阵列底面反射法获得各向异性材料纵波声速、最高幅值随入射角、旋转角的三维分布,并建立特征值与损伤程度之间的关系;具体的计算步骤如下:
(1)超声阵列底面反射法信号采集
将各向异性材料加工为等厚板状试样;以超声阵列某一阵元作为发射阵元,其他作为接收阵元,独立接收试样底面回波A扫描信号;
(2)基于小波变换读取声时及纵波声速计算
对步骤(1)中采集到的A扫描信号进行连续小波变换,读取不同阵元信号最高近似系数对应的声时,根据超声阵列发射阵元和其他阵元的尺寸、位置关系,计算超声入射角:
θij=arctan((2d)/|xi-xj|) (1)
其中,θij为超声入射角,xj,xj分别为发射阵元和接收阵元位置,d为板状试样厚度,各角度下纵波声速计算如下:
其中tij为不同阵元信号最高近似系数对应的声时;从A扫描信号中读取最高幅值,建立纵波声速、最高幅值随入射角的变化曲线;
(3)超声阵列不同旋转角下信号采集
改变超声阵列与各向异性材料试样接触面内旋转角,确保旋转过程中耦合良好;重复步骤(1)和(2),采集不同旋转角下的A扫描信号,计算不同旋转角下纵波声速、最高幅值随入射角的变化曲线,获得各向异性材料纵波声速、最高幅值随入射角、旋转角的三维分布;
(4)不同损伤程度的信号采集
对于不同损伤程度下的各向异性材料试样,重复步骤(1)~步骤(3),获取纵波声速、最高幅值随入射角、旋转角的分布,并建立该分布随损伤参量的变化趋势;
(5)超声特征值提取与损伤程度评价
分析步骤(4)所得结果的分布特征,提取特定入射角、旋转角下纵波声速、最高幅值作为超声特征值,并建立其与损伤参量的关联关系,评价各向异性材料损伤程度。
2.根据权利要求1所述的基于超声阵列底面反射法的各向异性材料损伤评价方法,其特征在于:所述损伤为老化损伤和早期力学损伤。
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