[发明专利]一种适用于不同类型测试主机的快速对接机构在审
申请号: | 202210378613.3 | 申请日: | 2022-04-12 |
公开(公告)号: | CN114800594A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 文汉林 | 申请(专利权)人: | 锐思特电子科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | B25J15/08 | 分类号: | B25J15/08;B25J19/00;G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人: | 夏祖祥 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 不同类型 测试 主机 快速 对接 机构 | ||
本发明涉及一种适用于不同类型测试主机的快速对接机构,包含上模块和下模块;所述上模块包括水平安装在机械手上的上模板、两条平行设置在上模板底部的支撑条、至少两个设置在支撑条侧面的卡头;所述下模块包括水平安装在测试机上的下模板、两组平行设置在下模板顶部且分别与两条支撑条交错放置的卡扣组件、设置在下模板顶部用于同时驱动两组卡扣组件移动的联动组件;每组所述卡扣组件包括导轨、至少两个滑动设置在导轨上的滑块、用于连接相邻滑块的连接板;所述滑块的侧面设置有用于卡住或松开卡头的L形卡槽;本发明通过联动组件同时驱动两组卡扣组件移动,利用L形卡槽卡住卡头,能使机械手和测试机快速对准,提高工作效率。
技术领域
本发明涉及半导体测试领域,特指一种适用于不同类型测试主机的快速对接机构。
背景技术
目前半导体行业中,很多半导体产品都需要测试机进行性能测试;为了实现自动化测试,测试机通常都会配合机械手进行使用;但由于测试机都是大型的精密测试仪器,不仅体积大,且重量很重,同时机械手上的空间狭小,这样就造成了测试机很难对准,导致工作效率较低。
发明内容
本发明目的是为了克服现有技术的不足而提供一种适用于不同类型测试主机的快速对接机构。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:一种适用于不同类型测试主机的快速对接机构,包含上模块和下模块;
所述上模块包括水平安装在机械手上的上模板、设置在上模板中部的上避让孔、两条平行设置在上模板底部且分别位于避让孔两侧的支撑条、至少两个设置在支撑条侧面的卡头;
所述下模块包括水平安装在测试机上且位于上模板下方的下模板、设置在下模板中部且与上避让孔同轴放置的下避让孔、两组平行设置在下模板顶部且分别与两条支撑条交错放置的卡扣组件、设置在下模板顶部用于同时驱动两组卡扣组件移动的联动组件;每组所述卡扣组件包括设置在下模板顶部的导轨、至少两个滑动设置在导轨上的滑块、用于连接相邻滑块的连接板;所述滑块的侧面设置有用于卡住或松开卡头的L形卡槽。
优选的,所述卡头上设置有滚轮;所述滚轮的直径不大于L形卡槽的最小直径。
优选的,所述支撑条上设置有多个与上模板连接的高度调节旋钮;多个所述高度调节旋钮沿支撑条的长度方向均匀间隔分布。
优选的,所述上模板上设置有多组不同位置和型号的锁紧孔;所述锁紧孔为葫芦孔。
优选的,所述上模板的底部设置有多根竖直放置的第一定位柱;所述下模板上设置有多个与第一定位柱对应的第一定位孔。
优选的,所述下模板的顶部设置有多根竖直放置的第二定位柱;所述支撑条的底部设置有多个与第二定位柱对应的第二定位孔。
优选的,所述第一定位柱和第二定位柱的头部均设置有倒角。
优选的,所述第一定位孔和第二定位孔内均安装有自润滑轴套。
优选的,所述联动组件包括分别设置在下模板顶部四个角上的转盘、四根分别铰链连接转盘和滑块的第一连杆、一根分别铰链连接相邻两个转盘的第二连杆、设置在其中一个转盘上的手柄。
优选的,所述L形卡槽包括竖直部和水平部;所述竖直部上端开口设置有倒角;所述水平部呈楔形,由外到内直径逐渐减少。
由于上述技术方案的运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:
1、本发明通过联动组件同时驱动两组卡扣组件移动,利用L形卡槽卡住卡头,能使机械手和测试机快速对准,提高工作效率;
2、本发明设置有多组不同位置和型号的锁紧孔,可配合多种机械手型号,通过性好;
3、本发明具有转动灵活、结构简单、安装和对准方便等优点。
附图说明
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