[发明专利]一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架

权利要求书

1.一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：包括底座、固定压板、套筒和挡板；其中，所述底座上表面及侧面共开有3组螺纹孔，分别用于与聚变装置中的样品板、固定压板以及套筒的螺栓连接；所述固定压板中心开有与样品尺寸匹配的台阶圆孔，用来嵌装样品；所述挡板上开有圆环形狭缝，结合所述套筒用于屏蔽几乎全部的带电粒子以及绝大多数的中性粒子对样品的入射，仅使具有特定入射角度的中性粒子到达所述样品的表面。

2.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述固定压板、套筒和挡板的材料均为高原子序数材料。

3.如权利要求2所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述高原子序数材料为钼或钨。

4.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述样品包括衬底与涂层，所述涂层的材料为需要在托卡马克装置内进行中性粒子腐蚀实验的材料。

5.如权利要求4所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述进行中性粒子腐蚀实验的材料为铍、铝、钼或钨。

6.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述圆环形狭缝的半径、宽度与挡板到样品表面的距离决定入射到样品表面的中性粒子的入射角度范围，通过调换带有不同半径的圆环形狭缝的挡板改变入射所述样品的中性粒子角度。

7.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：将所述底座通过螺栓固定到托卡马克装置中的样品板上后，将尺寸匹配的圆形带台阶的所述样品嵌装入所述固定压板上的所述台阶圆孔内，再整体通过螺栓与所述底座连接。

8.如权利要求7所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述台阶圆孔与样品的尺寸匹配，所述固定压板的表面与样品的表面位于同一高度。

9.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述套筒的侧面开有1组4个圆孔，与所述底座侧面的螺纹孔一一对应，利用螺栓固定后，再将所述挡板通过预留好的所述圆孔固定在所述套筒的上方。

10.如权利要求1所述的一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，其特征在于：所述套筒呈圆环形，具有一定高度。