[发明专利]基于空变球模型自适应单目偏折的工件面形重构方法在审

专利信息
申请号: 202210382794.7 申请日: 2022-04-08
公开(公告)号: CN114964035A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 吴珍;魏朝阳;牛振岐;王生水;李晓琳 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06T7/80;G06T7/11;G06F17/11
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 空变球 模型 自适应 单目偏折 工件 面形重构 方法
【权利要求书】:

1.一种基于空变球模型自适应单目偏折的工件面形重构方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

①在待测工件表面任选一点作为标志点F,并利用测量工具测量该标志点F的高度h;

②搭建检测光路:设相机光心坐标(X0,Y0,Z0),通过单目偏折术对待测工件进行测量,获得待测工件表面的标志点F的屏幕坐标(XS,YS,ZS)和相机像素坐标(Xca,Yca,Zca);

③根据标志点F的相机像素坐标(Xca,Yca,Zca)和相机光心坐标(X0,Y0,Z0),计算标志点F的反射光线的单位方向向量(am,bm,cm),并获得标志点F的反射光线方程,公式如下:

④将标志点F的高度h代入反射光线方程,获得标志点F的工件坐标(Xm,Ym,Zm):

Zm=h

⑤计算标志点F反射光线的法向量和标志点F入射光线的法向量公式如下:

计算标志点F的法向量公式如下:

⑥球模型拟合:用球面拟合所述的待测工件,球心位于标志点F和法向量的直线上,通过对标志点F反向光线追迹,迭代获得最优球半径,具体如下:

a)任意给定球面半径R,结合标志点F的坐标和法向量(Nx,Ny,Nz)得到球心坐标(Xc,Yc,Zc);

b)由球心坐标(Xc,Yc,Zc)、球面半径R和每个测量点的相机像素坐标得到测量点坐标、法向量以及入射光线的方向向量;

c)根据每个测量点坐标和入射光线的方向向量进行反向追迹,并计算追迹的屏幕坐标,将该测量点的屏幕坐标和初始屏幕坐标进行比较,得到反向追迹误差;

d)判断反向追迹误差是否满足预设的可接受最小误差,如不满足,则返回步骤a);满足,则终止迭代过程,输出拟合得到最优球心半径和对应的初始面形;

⑦获取待测工件的全局最优空变球模型,并通过单目偏折术得到待测元件的重构面形,具体过程如下:

7.1)对待测工件的表面进行步骤⑥,优化球模型拟合,代入偏折术得到重构面形Gn

7.2)设定循环参数t,令初始t=2;

7.3)将待测工件划分为t个区域,且各区域部分重合;

7.4)对区域1进行步骤⑥,优化球模型拟合,得到拟合初始面形g1

7.5)将区域1和区域2的公共区域中任一点作为区域2的标志点F2,对区域2进行步骤⑥,拟合初始面形g2,以此类推,对待测工件的第t个区域进行如上操作得到gt,最终获得待测工件全局重构面形Gt,Gt=g1+g2+……gt

F)判断全局重构面形Gt和Gn的误差是否满足预设的可接受最小值,如不满足,则令Gn=Gt,t=t+1,返回步骤7.3);如满足,则终止迭代过程,输出所有测量点坐标,得到最终重构面形。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210382794.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top