[发明专利]用于缺陷检测的方法、装置、检测设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210383057.9 申请日: 2022-04-13
公开(公告)号: CN114693663A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 陈瑞侠;冒树林;李震;张智铭;尹俊伟;陈红兰;刘畅;王瑞峰;邱琼文 申请(专利权)人: 北京明略软件系统有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/10
代理公司: 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 代理人: 杨国勇
地址: 100000 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种用于缺陷检测的方法,其特征在于,包括:

获得被检测部件的深度图像;

对所述深度图像进行预处理,获得待去噪数据;

对所述待去噪数据进行频域转换,获得频域数据;

根据条纹噪声的频域特征和缺陷的频域特征,对所述频域数据进行滤波处理,滤除所述频域数据中的条纹噪声并保留缺陷,得到去噪后的频域数据信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据条纹噪声的频域特征和缺陷的频域特征,对所述频域数据进行滤波处理,包括:

根据所述频域数据中条纹噪声的方向,对所述频域数据进行滤波处理;其中,滤波器的设置方向与所述频域数据中条纹噪声的方向相同。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,

所述滤波器包括水平滤波器和垂直滤波器。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述深度图像中包含深度点云数据,所述对所述深度图像进行预处理,包括:

根据所述深度点云数据的深度信息,确定前景区域数据;

对所述前景区域数据进行归一化处理,获得待去噪数据。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述深度点云数据的深度信息,确定前景区域数据,包括:

判断所述深度点云数据的深度信息是否大于或等于预设深度阈值;

若深度点云数据的深度信息大于或等于所述预设深度阈值,则判定该处深度点云数据为前景区域数据。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,在所述得到去噪后的频域数据信息后,还包括:

将得到的所述去噪后的频域数据信息转化为时域数据信息。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述将得到的所述去噪后的频域数据信息转化为时域数据信息后,还包括:

判断所述时域数据信息是否满足预设去噪需求,若否,则对于所述时域数据信息再次转化为频域数据并根据条纹噪声的频域特征和缺陷的频域特征,进行所述滤波处理。

8.一种用于缺陷检测的装置,包括处理器和存储有程序指令的存储器,其特征在于,所述处理器被配置为在运行所述程序指令时,执行如权利要求1至7任一项所述的用于缺陷检测的方法。

9.一种检测设备,其特征在于,包括:

深度相机,用于采集被检测部件的深度图像;和,

如权利要求8所述的用于缺陷检测的装置。

10.一种存储介质,存储有程序指令,其特征在于,所述程序指令在运行时,执行如权利要求1至7任一项所述的用于缺陷检测的方法。

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