[发明专利]一种基于UVM的高精度时戳验证方法在审
申请号: | 202210384323.X | 申请日: | 2022-04-13 |
公开(公告)号: | CN114745071A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 袁阳 | 申请(专利权)人: | 芯河半导体科技(无锡)有限公司 |
主分类号: | H04J3/06 | 分类号: | H04J3/06 |
代理公司: | 北京神州信德知识产权代理事务所(普通合伙) 11814 | 代理人: | 朱俊杰 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 uvm 高精度 验证 方法 | ||
1.一种基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
S1发包组件产生以太网帧,将产生的以太网帧送给填充组件;
S2填充组件感知报文类型,收到发包组件产生的以太网帧,修改帧部分内容标记其为时戳帧,根据需求产生时戳随路信息,将时戳相关信息压入队列中,完成替换后的数据送给驱动组件中;
S3驱动组件根据接口总线位宽将时戳帧和非时戳帧进行切片后,在反压信号和对应时隙有效时驱动到DUT;同时配置DUT所需寄存器,硬复位解复位后依次配置相关寄存器,解软复位,完成配置流程;
S4解析组件接收到DUT环回数据后,将切片报文重组以太网帧,根据帧内部标记识别出时戳帧,并送入校验组件;
S5校验组件接收到解析组件送入的时戳帧,根据不同的报文类型,提取相应时戳信息,计算时戳精度。
2.根据权利要求1所述的基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于:发包组件根据用例约束产生相应的以太网帧以及时戳帧。
3.根据权利要求1所述的基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于:驱动组件优先调度时戳帧并将对应的时戳相关信息压入队列中,对时戳帧和非时戳帧根据接口数据位宽进行切片并打上相应的随路标记,最后在反压信号为高和有效时隙的前提下将切片帧通过接口送给DUT。
4.根据权利要求1所述的基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于:校验组件计算每个时戳帧的延时,对每个帧的延时进行比较,最大值即为所求时戳精度jitter;与需求值进行比较,小于需求值则表示时戳正确打上。
5.根据权利要求1所述的基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于:所述填充组件是将以太网帧部分修改成时戳帧,未修改的则是非时戳帧。
6.根据权利要求1所述的基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于:所述DUT所需寄存器包括时戳寄存器,PCS速率使能寄存器以及MAC速率使能寄存器。
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