[发明专利]工业质检的方法和装置

权利要求书

1.一种工业质检的方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待检测工件的图像数据；

采用分割网络对所述图像数据进行处理以得到分割图像数据，其中，所述分割网络布署于GPU中；

判断所述分割图像数据是否具有检出目标；

若是，则将所述分割图像数据从所述GPU加载至CPU，以对所述待检测工件进行质检。

2.根据权利要求1所述的工业质检的方法，其特征在于，所述检出目标为工业缺陷目标。

3.根据权利要求2所述的工业质检的方法，其特征在于，判断所述分割图像数据是否具有检出目标，包括以下步骤：

获取所述分割图像数据的类别总数；

计算所述分割图像数据中每一类所述工业缺陷目标所在分割图像的检出阈值；

计算所述分割图像数据中每一类所述工业缺陷目标所在分割图像的最大连通域像素数量；

判断所述最大连通域像素数量是否大于所述检出阈值；

若是，则判定所述分割图像具有所述检出目标，以将所述分割图像从所述GPU加载至所述CPU。

4.根据权利要求3所述的工业质检的方法，其特征在于，其中，所述检出阈值为每一类所述工业缺陷目标所在分割图像中像素值不为0的像素数量，并且，采用下列公式计算所述分割图像数据中每一类所述工业缺陷目标所在分割图像的检出阈值：

其中，the_i表示所述检出阈值，n_i表示第i类工业缺陷目标的总数，A_ji表示第i类工业缺陷目标、第j个工业缺陷目标的面积。

5.根据权利要求4所述的工业质检的方法，其特征在于，计算所述分割图像数据中每一类所述工业缺陷目标所在分割图像的最大连通域数量，具体包括以下步骤：

采用Two-pass算法将每一类所述工业缺陷目标所在分割图像划分为不同连通域，其中，每个所述连通域像素的像素值不等于0；

采用扫描算法计算每一类所述工业缺陷目标所在分割图像的每个连通域像素数量；

采用排序算法计算每一类所述工业缺陷目标所在分割图像中像素值不为0的最大连通域像素数量。

6.一种工业质检的装置，其特征在于，包括：

获取模块，所述获取模块用于获取待检测工件的图像数据；

处理模块，所述处理模块用于采用分割网络对所述图像数据进行处理以得到分割图像数据，其中，所述分割网络布署于GPU中；

判断模块，所述判断模块用于判断所述分割图像数据是否具有检出目标；

加载模块，所述加载模块用于在所述分割图像数据具有检出目标时，将所述分割图像数据从所述GPU加载至CPU，以对所述待检测工件进行质检。

7.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现根据权利要求1-5中任一项所述的工业质检的方法。

8.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现根据权利要求1-5中任一项所述的工业质检的方法。