[发明专利]触摸检测方法、装置、芯片、电子设备和存储介质

说明书

本公开涉及一种触摸检测方法、装置、芯片、电子设备和存储介质，所述方法包括：控制触摸按键模块对一个或多个按键进行K次触摸按键扫描，得到各个按键在每一次完成扫描时的扫描计数值，其中，所述触摸按键模块根据充放电单元的充放电次数得到针对触摸按键的触摸操作的检测结果，所述扫描计数值根据所述按键完成扫描时对应的充放电次数确定，K≥1且为整数；对K次触摸按键扫描得到的扫描计数值进行运算，得到运算扫描计数值；在所述运算扫描计数值与预设扫描计数值之差大于预设值的情况下，确定检测到所述按键的触摸操作。本公开实施例可以提高触摸检测的准确性。

技术领域

本公开涉及触摸技术领域，尤其涉及一种触摸检测方法、装置、芯片、电子设备和存储介质。

背景技术

现阶段，电容式触摸按键在外形美观和使用寿命等方面都优于传统的机械按键，因此电容式触摸按键广泛应用于包括家电、消费电子、工业控制和移动设备等领域，然而，在进行触摸按键检测时，目前的触摸按键模块容易受到噪声的影响，最终无法对触摸按键的触发做出有效判断。

发明内容

根据本公开的一方面，提供了一种触摸检测方法，所述方法包括：

控制触摸按键模块对一个或多个按键进行K次触摸按键扫描，得到各个按键在每一次完成扫描时的扫描计数值，其中，所述触摸按键模块根据充放电单元的充放电次数得到针对按键的触摸操作的检测结果，所述扫描计数值根据按键完成扫描时对应的充放电次数确定，K≥1且为整数；

对K次触摸按键扫描得到的扫描计数值进行运算，得到运算扫描计数值；

在所述运算扫描计数值与预设扫描计数值之差大于预设值的情况下，确定检测到按键的触摸操作。

在一种可能的实施方式中，所述对K次触摸按键扫描得到的扫描计数值进行运算，得到运算扫描计数值，包括：

对K次触摸按键扫描得到的扫描计数值进行累加运算或平均运算，得到所述运算扫描计数值。

在一种可能的实施方式中，所述方法包括：

在针对第一按键的任意一次触摸按键扫描得到的扫描计数值大于预设最大计数值的情况下，结束对所述第一按键的触摸按键扫描，并输出计数溢出错误信息，所述第一按键为所述一个或多个按键中的任意一个。

在一种可能的实施方式中，所述触摸按键模块包括数字逻辑单元、输出单元，所述数字逻辑单元包括触摸计数校准单元、累加或平均运算单元、计数放大单元，触摸扫描状态统计单元，所述触摸计数校准单元用于统计和校准各个按键的扫描计数值，所述累加或平均运算单元用于对触摸计数值进行预设次数的累加或平均运算，所述计数放大单元用于放大累加或平均运算后的计数值，所述触摸扫描状态统计单元用于存储所述预设最大计数值，并执行所述扫描计数值与所述预设最大计数值的比较操作，所述方法还包括：

接收最大计数值指示信息，对所述预设最大计数值进行配置；

控制所述输出单元根据所述比较操作的比较结果输出所述溢出错误信息。

在一种可能的实施方式中，所述触摸按键模块包括多个检测通道、比较单元、电压产生单元、第一电容及第一开关，每个检测通道与每个触摸按键对应，用于进行触摸检测，其中，

所述比较单元的正向输入端连接于各个检测通道、所述第一电容的第一端、所述第一开关的第一端，所述第一电容的第二端及所述第一开关的第二端接地，

所述电压产生单元的第一输出端连接于所述比较单元的负向输入端，用于依次输出多个参考电压，其中，各个参考电压与各个检测通道对应；

所述电压产生单元的第二输出端连接于各个检测通道的供电端，用于依次输出多个充电电压，其中，各个充电电压与各个检测通道对应；

所述方法还包括：