[发明专利]应用于多晶系的缺陷检索方法及系统

权利要求书

1.一种应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述方法包括：

基于壳层定义，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数N_p，其中，所述壳层定义为：与中心原子具有相同类型的键的原子称为在同一个壳层；

基于所述近邻原子数N_p，确定参考矢量集和实际矢量集；

将所述参考矢量集中的第一参考矢量两两相加并取最小值，得到第二参考矢量

基于所述参考矢量集和所述实际矢量集，计算比例参数λ；

基于所述实际矢量集中的实际矢量所述第二参考矢量和所述比例参数λ，计算E-CSP值为：

2.如权利要求1所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述基于壳层定义，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数N_p，包括：

基于所述壳层定义，对14个布拉菲格子的壳层进行分类，得到壳层分类结果；

对所述壳层分类结果中每个壳层满足的键的类型进行数量统计，构建晶胞单元的壳层成键及原子数对照表；

基于晶胞结构和所述晶胞单元的壳层成键及原子数对照表，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数N_p。

3.如权利要求1所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述基于所述近邻原子数N_p，确定参考矢量集和实际矢量集，包括：

基于扩八胞后中心原子的坐标，选取N_p/2对所述第一参考矢量，构建中心原子的参考矢量集

基于所述中心原子的实际测量结果，查找最近N_p个实际矢量，构建所述实际矢量集

分别基于所述参考矢量和所述实际矢量的模长，对所述第一参考矢量和所述实际矢量进行排序。

4.如权利要求1所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述将所述参考矢量集中的第一参考矢量两两相加并取最小值，得到第二参考矢量的公式表示为：

5.如权利要求3所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述基于所述参考矢量集和所述实际矢量集，计算比例参数λ，包括：

根据排序后的所述第一参考矢量和排序后的所述实际矢量之间的一一对应关系，计算所述比例参数λ，公式表示如下：

其中，为排序后的第j个所述实际矢量的模长，为排序后的第j个所述第一参考矢量的模长。

6.如权利要求1所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述基于所述实际矢量集中的实际矢量所述第二参考矢量和所述比例参数λ，计算E-CSP值，包括：

对所述实际矢量集中的所有矢量进行全排列，得到全排列结果；

对于每个所述第二参考矢量，从所述全排列结果中，查找到使得最小并作为所述第二参考矢量对应的E-CSP值，k≠l,k,l∈[1,N_P]；

基于每个所述第二参考矢量对应的E-CSP值，计算总的E-CSP值。

7.如权利要求1-6任一项所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，在所述基于壳层定义，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数N_p之前，所述方法还包括：

采用E-CNA方法识别出所述待测晶胞中的无缺陷原子，并将无缺陷原子删除。

8.如权利要求1-6任一项所述的应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述E-CSP值，对多晶系的缺陷进行着色分类。