[发明专利]一种显示面板的检测方法

说明书

本申请实施例公开了一种显示面板的检测方法，包括以下步骤:提供一显示面板，所述显示面板包括显示区和设于所述显示区一侧的扇出区，所述显示区内设有若干像素单元以及信号线，每一信号线与至少一像素单元连接，所述信号线自所述显示区延伸至所述扇出区中；将所述扇出区的信号线与检测电路结构的一端连接，在所述检测电路结构的另一端输入电信号，观测所述像素单元是否被点亮，若均被点亮，则所述显示面板合格，若存在至少一像素单元未被点亮，则所述显示面板不合格。

技术领域

本申请涉及显示领域，具体涉及一种显示面板的检测方法。

背景技术

显示面板的制备过程通常包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的成盒(Cell)工序，在进行Cell工序时，需要对显示面板进行面板功能测试(Cell-Test)，Cell-Test可以检测显示面板在阵列基板、彩膜基板、成盒这三个工序中出现的不良，从而把不良的产品去除，以提升显示面板的制备良率。Cell-Test过程需要基于显示面板内部的Cell-Test测试电路进行，但是当测试电路设于驱动IC的对侧时，则无法检测扇出区的信号线是否断线。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板的检测方法，可以解决现有技术中显示面板的检测方法存在漏检的技术问题。

本申请实施例提供一种显示面板的检测方法，包括以下步骤:

提供一显示面板，所述显示面板包括显示区和设于所述显示区一侧的扇出区，所述显示区内设有若干像素单元以及信号线，每一信号线与至少一像素单元连接，所述信号线自所述显示区延伸至所述扇出区中；

将所述扇出区的信号线与检测电路结构的一端连接，在所述检测电路结构的另一端输入电信号，观测所述像素单元是否被点亮，若均被点亮，则所述显示面板合格，若存在至少一像素单元未被点亮，则所述显示面板不合格。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述信号线的末端设于所述扇出区远离所述显示区的一侧，所述检测电路结构的所述一端与所述信号线的所述末端连接。

可选的，在本申请的一些实施例中，在所述观测每一信号线连接的像素单元是否被点亮的步骤之后，还包括以下步骤：

切断所述检测电路结构的所述一端与所述信号线的连接处。

可选的，在本申请的一些实施例中，若存在至少一像素单元未被点亮，则所述像素单元对应的所述信号线存在断点。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述检测电路结构包括

至少两个薄膜晶体管单元，所述薄膜晶体管单元的栅极连接至第一走线、所述薄膜晶体管单元的源极连接至第二走线，所述薄膜晶体管单元的漏极分别与一信号线连接。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述将所述扇出区的信号线与检测电路结构的一端连接的具体步骤如下：

将所述检测电路结构的所述薄膜晶体管单元的漏极与信号线一一对接；

向所述第一走线和第二走线输入电信号；

观测每一信号线连接的像素单元是否被点亮，若是，则该信号线合格，若否，则该信号线不合格；

向所述第一走线和所述第二走线输入接地信号。

可选的，在本申请的一些实施例中，向所述第一走线输入的电信号的电压为17～32V。

可选的，在本申请的一些实施例中，向所述第二走线输入的电信号的电压为6～16V。

可选的，在本申请的一些实施例中，在所述向所述第一走线和所述第二走线输入接地信号的步骤之后，还包括以下步骤：

切断所述薄膜晶体管单元的漏极与所述信号线的连接处。