[发明专利]一种高效验证固态存储垃圾回收的测试方法在审

专利信息
申请号: 202210393766.5 申请日: 2022-04-15
公开(公告)号: CN114758716A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 刘忞斋;李瑞东;王璞;高美洲;孙大朋;郭泰;付凤之;范军朋 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: G11C29/14 分类号: G11C29/14;G11C29/18
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 李桂存
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 高效 验证 固态 存储 垃圾 回收 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种高效验证固态存储垃圾回收的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)用户输入待校验逻辑Block数据量Nlblock_for_test,计算逻辑容量使用的物理Block数量Npblock_for_logic;具体公式如下:Npblock_for_logic=Nlblock/Nlblock_per_pblock

2)计算每个物理Block需要存储的待校验数据量Ntest_lblock_perpblock,计算公式如下:Ntest_lblock_per_pblock=Nlblock_for_test/Npblock_for_logic

3)计算待校验数据LBA样本集合Slba={Si|0≤i<Npblock_for_logic},其中Si包含的LBA范围为[Li_start,Li_end];

4)执行一次全盘顺序写操作,对所有LBA按序执行写入操作,过程中记录Slba中LBA关联的数据信息;

5)执行随机写操作,过程中对Slba以外的所有LBA执行随机写入操作,数据写入量为Cphy×2;

6)判断写入数据量是否达到物理容量2倍,如果为否则返回步骤5,如果为是则校验样本集合中所有LBA数据正确性;

7)对Slba中所有LBA执行读取操作,校验读取数据正确性:全部校验成功,测试通过;存在校验失败数据,测试失败。

2.根据权利要求1所述的高效验证固态存储垃圾回收的测试方法,其特征在于,所述用户输入待校验逻辑Block数据量Nlblock_for_test,应大于Npblock_for_logic

3.根据权利要求1所述的高效验证固态存储垃圾回收的测试方法,其特征在于,所述步骤3中Li_start,Li_end计算公式如下:

Listart=i×NIblock_per_pblock

Li_end=Li_start+Ntest_lblock_per_pblock-1

式中i为LBA样本集合Slba中的样本索引。

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