[发明专利]孔轴偏移量检测治具及其作业方法在审

专利信息
申请号: 202210393903.5 申请日: 2022-04-15
公开(公告)号: CN114646283A 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 李双成;马海龙;范传敏;张永乐;袁俊;卢旭坤;辜诗涛 申请(专利权)人: 东莞利扬芯片测试有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B5/02;G01B11/02;G01B17/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 刘光明
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 偏移 检测 及其 作业 方法
【权利要求书】:

1.一种孔轴偏移量检测治具,其特征在于,包括:

底座;

第一基板和第二基板,所述第一基板上设置有定位轴和定位孔之任一者,所述第二基板上设置有所述定位轴和所述定位孔之另一者,所述第二基板装配于所述第一基板时,所述定位轴插接于所述定位孔;

固定装置,所述固定装置用于将所述第一基板固定在所述底座上;

检测装置,所述检测装置用于检测所述第二基板装配于所述第一基板后,直线推动所述第二基板时所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量,以检测出所述定位孔和/或所述定位轴的偏移量。

2.根据权利要求1所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述底座设有用于安装所述检测装置的安装部。

3.根据权利要求2所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述安装部形成有安装槽,所述检测装置安装于所述安装槽内,所述安装槽朝向所述第一基板和所述第二基板的一侧开设有开口,所述检测装置通过所述开口检测所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量。

4.根据权利要求2或3所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述检测装置包括千分表,所述千分表安装于所述安装部,所述千分表的测杆被配置为可在所述第二基板的被推动方向上伸缩以抵接在处于不同位置的所述第二基板。

5.根据权利要求2或3所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述检测装置包括测距传感器,所述测距传感器安装于所述安装部,所述测距传感器用于检测所述第二基板的位置变化以检测所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量。

6.根据权利要求1所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述固定装置包括滑块和锁合件,所述滑块被配置为可沿所述底座滑动并可由所述锁合件锁合固定在所述底座上,所述底座的一侧设有止挡壁,于所述锁合件将所述滑块锁合固定时,所述第一基板被夹设于所述滑块和所述止挡壁之间。

7.根据权利要求6所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述滑块凸设有导向凸部,所述底座上设有第一滑槽,所述导向凸部滑设于所述第一滑槽。

8.根据权利要求6或7所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述锁合件包括固定把手和锁芯滑块,所述固定把手包括连接杆和阻挡部,所述锁芯滑块开设有螺孔,所述底座设有第二滑槽,所述锁芯滑块嵌入所述第二滑槽内并可沿所述第二滑槽滑动,所述滑动件设有通孔,所述连接杆穿过所述通孔后与所述螺孔螺纹连接,于所述连接杆与所述螺孔螺纹旋合至所述滑动件被固定夹持于所述底座和所述阻挡部之间时,所述滑动件被锁合固定。

9.根据权利要求1所述的孔轴偏移量检测治具,其特征在于,所述第一基板设有至少一个用于放置芯片的容纳槽,所述第二基板设有至少一个用于吸附芯片的吸附部,所述吸附部用于将芯片载入或载出所述容纳槽。

10.一种如权利要求1至9任一项所述的孔轴偏移量检测治具的作业方法,其特征在于,包括:

所述固定装置将所述第一基板固定在所述底座上;

将所述第二基板装配于所述第一基板以使所述定位轴插接于所述定位孔;

将所述第二基板朝向第一方向直线抵推至无法推动的第一位置;

将所述第二基板朝向与所述第一方向相反的第二方向直线抵推至无法推动的第二位置;

所述检测装置检测所述第一位置和所述第二位置之间的距离以检测所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量,从而检测出所述定位孔和/或所述定位轴的偏移量。

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