[发明专利]用于合束光脉冲的方法和装置有效
申请号: | 202210407082.6 | 申请日: | 2022-04-19 |
公开(公告)号: | CN114785420B | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 付仁清;张建;李南;陈柳平 | 申请(专利权)人: | 国开启科量子技术(北京)有限公司 |
主分类号: | H04B10/70 | 分类号: | H04B10/70;H04L9/08 |
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地址: | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 合束光 脉冲 方法 装置 | ||
1.一种用于合束光脉冲的方法,其特征在于,所述方法包括:
向来自不同光源制备的光脉冲施加脉冲调制电压;
测量所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强;
根据测量到的光强调整所述光脉冲的延时位置,以经由调整后的延时位置改变所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强,直到所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大为止;
响应于所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大而锁定所述光脉冲的延时位置;
将锁定延时位置后的光脉冲合束成一束光。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大时,所述光脉冲的延时位置被调整至所述脉冲调制电压的平坦区域所在的延时区段内。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在将锁定延时位置后的光脉冲合束成一束光之前,所述方法还包括:
以所述光脉冲中的任意一束光脉冲作为基准光脉冲;
测量所述光脉冲中的其他光脉冲与所述基准光脉冲之间的延时间隔;
根据测量到的延时间隔再次调整所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置,直到所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置与所述基准光脉冲的延时位置对齐为止;
响应于所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置与所述基准光脉冲的延时位置对齐而再次锁定所述光脉冲的延时位置。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光脉冲和所述脉冲调制电压以相同频率制备。
5.一种用于合束光脉冲的装置,其特征在于,所述装置包括:
光脉冲调制单元,被配置为向来自不同光源制备的光脉冲施加脉冲调制电压;
光强测量单元,被配置为测量所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强;
延时调整单元,被配置为根据测量到的光强调整所述光脉冲的延时位置,以经由调整后的延时位置改变所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强,直到所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大为止;
延时锁定单元,被配置为响应于所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大而锁定所述光脉冲的延时位置;
光脉冲合束单元,被配置为将锁定延时位置后的光脉冲合束成一束光。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,当所述光脉冲经由所述脉冲调制电压调制后的光强达到最大时,所述光脉冲的延时位置被调整至所述脉冲调制电压的平坦区域所在的延时区段内。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
基准光选择单元,被配置为以所述光脉冲中的任意一束光脉冲作为基准光脉冲;
延时测量单元,被配置为测量所述光脉冲中的其他光脉冲与所述基准光脉冲之间的延时间隔;
延时再调整单元,被配置为根据测量到的延时间隔再次调整所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置,直到所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置与所述基准光脉冲的延时位置对齐为止;
延时再锁定单元,被配置为响应于所述光脉冲中的其他光脉冲的延时位置与所述基准光脉冲的延时位置对齐而再次锁定所述光脉冲的延时位置。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述光脉冲和所述脉冲调制电压以相同频率制备。
9.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,当所述计算机程序被处理器执行时,实现权利要求1至4中任意一项所述的用于合束光脉冲的方法。
10.一种计算设备,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,实现权利要求1至4中任意一项所述的用于合束光脉冲的方法。
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