[发明专利]显示基板和显示装置

说明书

本公开提供了一种显示基板，包括：衬底基板；驱动功能层，包括：多个像素驱动电路和用于向像素驱动电路提供电信号的多条信号走线，在至少一个像素驱动电路和/或至少一条信号走线上配置有待检测节点；多个发光元件，位于驱动功能层远离衬底基板的一侧，发光元件包括沿远离衬底基板方向依次设置的第一电极、电致发光层和第二电极，发光元件的第一电极与对应的像素驱动电路连接；至少一个导电引出端子，导电引出端子位于驱动功能层远离衬底基板的一侧，导电引出端子与待检测节点一一对应，导电引出端子与对应的待检测节点电连接，导电引出端子在衬底基板上的正投影与电致发光层在衬底基板上的正投影不存在交叠。

技术领域

本发明涉及显示领域，特别涉及一种显示基板和显示装置。

背景技术

随着科技的进步，显示技术也在飞速发展，其中有机发光二极管(Active MatrixOrganic Light Emitting Diode，简称AMOLED)显示装置成为未来显示 的发展趋势，它有着低功耗、自发光、可弯折等多重优点。但是产品良率低一 直是阻碍OLED发展的主要问题，目前各OLED制造商都将良率提升和成本降低 作为产品量产的首要目标。

像素单元是显示装置中的基本发光单元，像素单元包括像素驱动电路和发 光元件，像素驱动电路用于输出驱动电流以驱动发光元件进行发光。故，像素 驱动电路内某些电学器件(例如晶体管)的电学特性、为像素驱动电路提供电 信号的信号走线的电学特性，是直接影响显示装置良率的关键因素。然而，目 前的测试技术仅能通过显示装置中的TEG测试组件来对显示装置的整体性能进 行预估，无法对显示装置中的不良区域的真实情况进行有效分析。也就是说， 现有的测试方案无法对像素单元、信号走线进行精细化测试。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种显示基 板和显示装置。

第一方面，本公开实施例提供了一种显示基板，包括：

衬底基板；

驱动功能层，包括：多个像素驱动电路和用于向所述像素驱动电路提供电 信号的多条信号走线，在至少一个像素驱动电路和/或至少一条所述信号走线上 配置有待检测节点；

多个发光元件，位于所述驱动功能层远离所述衬底基板的一侧，所述发光 元件包括沿远离所述衬底基板方向依次设置的第一电极、电致发光层和第二电 极，所述发光元件的第一电极与对应的像素驱动电路连接；

至少一个导电引出端子，所述导电引出端子位于所述驱动功能层远离所述 衬底基板的一侧，所述导电引出端子与所述待检测节点一一对应，所述导电引 出端子与对应的所述待检测节点电连接，所述导电引出端子在所述衬底基板上 的正投影与所述电致发光层在所述衬底基板上的正投影不存在交叠。

在一些实施例中，所述导电引出端子与所述第一电极同层设置。

在一些实施例中，所述显示基板还包括：

像素界定层，位于所述驱动功能层远离所述衬底基板的一侧，包括：像素 开口，所述像素开口与所述发光元件一一对应，所述发光元件位于对应的像素 开口内；

所述像素界定层还包括：端子开口，所述端子开口与所述导电引出端子一 一对应，所述端子开口连通至对应的所述导电引出端子。

在一些实施例中，所述第二电极为面状电极，在所述端子开口内且位于所 述导电引出端子与所述第二电极之间设置有绝缘隔离层。

在一些实施例中，在所述第一电极与所述第二电极之间还设置有至少一层 非发光功能层，所述非发光功能层包括电子阻挡层、空穴传输层、电子传输层 和空穴阻挡层中至少之一；

所述绝缘隔离层包括至少一层所述非发光功能层。

在一些实施例中，所述像素驱动电路包括：