[发明专利]一种高速点扫描超分辨显微成像系统在审
申请号: | 202210414762.0 | 申请日: | 2022-04-20 |
公开(公告)号: | CN114894752A | 公开(公告)日: | 2022-08-12 |
发明(设计)人: | 王子昂;徐良 | 申请(专利权)人: | 杭州柏纳光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G02B21/00 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 谢明晖 |
地址: | 311100 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高速 扫描 分辨 显微 成像 系统 | ||
1.一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:包括
激光器组,包括抑制光激光器(1)和激发光激光器(2);
激发光模块,用于调质激发光,包括第一空间光调制器(5),第一空间光调制器(5)用于将经过第一空间光调制器(5)的激发光衍射成7个正六边形分布的光斑,当激发光以一定的角度入射进第一空间光调制器(5)芯片后,控制第一空间光调制器(5)加载的全息相位图以调节每个像素的相位与强度;
抑制光模块,用于调质抑制光,包括第二空间光调制器(7),第二空间光调制器(7)用于将经过第二空间光调制器(7)的激发光衍射成7个正六边形分布的光斑,当抑制光以一定的角度入射进第二空间光调制器(7)芯片后,控制第二空间光调制器(7)加载的全息相位图以调节每个像素的相位与强度;
合束模块,用于反射抑制光和投射激发光以合并激发光和抑制光;
扫描模块,用于对激发光和抑制光进行同时扫描,实现对样品进行平面扫描;
样品台(28),用于放置样品且为样品提供平面移动;
探测模块,用于收集样品被激光激发的荧光信号成像出样品图案。
2.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述激发光模块还包括第一扩束镜组(3),所述第一扩束镜组(3)位于激光器组和第一空间光调制器(5)之间,第一扩束镜组(3)用于扩束激发光的光斑大小以使激发光能覆盖第一空间光调制器(5)。
3.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述抑制光模块还包括第二扩束镜组(6),所述第二扩束镜组(6)位于激光器组和第二空间光调制器(7)之间,第二扩束镜组(6)用于扩束激发光的光斑大小以使激发光能覆盖第二空间光调制器(7)。
4.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述合束模块依次包括第一反射镜(8)、第一二向色镜(9)和成像透镜组(12),所述第一反射镜(8)用于反射抑制光,第一二向色镜(9)用于反射激发光和投射抑制光以合并激发光和抑制光,所述成像透镜组(12)用于对合束后的激光进行傅里叶变换。
5.根据权利要求4所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述合束模块还包含光掩模版(10),成像透镜组(12)包括一对成像透镜(13),光掩模版(10)位于两个成像透镜(13)之间,所述光掩模版(10)用于对光斑进行滤波。
6.根据权利要求5所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述合束模块还包括调节平台(11),所述调节平台(11)包括底台(14)、平行滑动连接于底台(14)的中间台(15)、转动连接于中间台(15)的安装台(16),所述光掩模版(10)安装于安装台(16)。
7.根据权利要求1所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述扫描模块包括振镜(19)和物镜(20),所述振镜(19)用于对重合后的激发光和抑制光进行扫描实现对样品的平面扫描,所述物镜(20)用于聚焦激发光和抑制光至样品面。
8.根据权利要求6所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述扫描模块还包括光束校正组件,所述光束校正组件位于振镜(19)和物镜(20)之间,所述光束校正组件包括扫描透镜(21)和场镜(22),所述光束校正组件用于对扫描光束进行边缘矫正。
9.根据权利要求7所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述探测模块包括第二二向色镜(23)、收集透镜(25)、多模光纤组(26)和PMT组(27),样品激发的荧光信号返回依次经过物镜(20)、场镜(22)、扫描透镜(21)、第二二向色镜(23)、收集透镜(25)、定制光纤组和PMT组(27)。
10.根据权利要求8所述的一种高速点扫描超分辨显微成像系统,其特征在于:所述第二二向色镜(23)与光轴成45°角放置。
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