[发明专利]不规则微小弹片厚度测量专用千分尺

说明书

本发明公开了一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，包括“U”型尺架，所述“U”型尺架的前端设有测砧，“U”型尺架的后端设有由测微装置控制而旋进或旋退的螺杆，所述测砧包括固定座和测量杆，所述固定座设于“U”型尺架前端的顶部，所述测量杆竖直设于固定座的顶部，所述螺杆前端的测头对位于测量杆的后侧面，所述测微装置的读数归零时，所述测头与测量杆相接触。本发明能达到简便、精确、高效测量的测量目的，降低了传统测量方式的生产成本，实现了快速直接准确的测量。

技术领域

本发明涉及测量工具，具体为一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺。

背景技术

本申请人公司航天航空用继电器及开关插件等产品中包含较多不规则微小簧片，这些不规则微小簧片的外形尺寸都以毫米为单位计量，形状各异，批量大，加工过程较简单，均采用落料→光饰→成形(直接压弯或弯曲卷圈)的工序过程，每道工序都需要检测不规则微小簧片本体厚度尺寸的变化。

由于不规则微小簧片本体具有厚度薄、刚性差和容易变形的特点，一般不适应采用通用量具如普通千分尺进行测量，而采用其他辅助测量工具测量时都存在一定的缺陷与不足，如存在测量误差或测量费时费力的问题。

发明内容

为解决由于通用量具的局限性带来的测量问题，本发明提出了一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺。

能够解决上述技术问题的不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，其技术方案包括“U”型尺架，所述“U”型尺架的前端设有测砧，“U”型尺架的后端设有由测微装置控制的螺杆，所不同的是所述测砧包括固定座和测量杆，所述固定座设于“U”型尺架前端的顶部，所述测量杆竖直设于固定座的顶部，所述螺杆前端的测头对位于测量杆的后侧面，所述测微装置的读数归零时，所述测头与测量杆相接触。

进一步，所述测头的顶部平齐于测量杆的顶部

再进一步，所述测量杆的直径设计为φ1mm×3.5mm，所述测头的直径设计为φ3mm×6mm，所述固定座的直径设计为φ3.5mm×5mm。

常规上，所述测微装置上设有带数据输出端口的液晶显示器。

本发明的有益效果：

本发明不规则微小弹片厚度测量专用千分尺能达到简便、精确、高效测量的测量目的，降低了传统测量方式的生产成本，实现了快速直接准确的测量。

附图说明

图1为本发明一种实施方式的结构示意图。

图2为图1实施方式中A处的局部放大图。

图3为采用图1实施方式进行测量的半开口卷圈簧片的结构示意图。

图4为采用图1实施方式对图3所示半开口卷圈簧片进行测量的示意图(俯视)。

图号标识：1、“U”型尺架；2、测砧；2-1、固定座；2-2、测量杆；3、螺杆；3-1、测头；4、测微装置；4-1、液晶显示器；5、半开口卷圈簧片。

具体实施方式

下面结合附图所示实施方式对本发明的技术方案作进一步说明。

本发明不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，包括相互作用进行测量的测砧2和螺杆3，所述测砧2设于“U”型尺架1的前端，所述螺杆3设于“U”型尺架1后端上设置的测微装置4内并在测微装置4的旋动控制下向测砧2前进或后退，所述测微装置4上设有带数据输出端口的液晶显示器4-1，如图1所示。

所述测砧2包括固定座2-1和测量杆2-2，所述固定座2-1设于“U”型尺架1前端的顶部上，所述测量杆2-2同轴竖直设于固定座2-1上，如图2所示。