[发明专利]一种压力测量校正装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202210429310.X 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN114878066A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 陈代鑫;周力;朱绪胜;缑建杰;蔡怀阳;陈俊佑;蔡晓奇;唐海波 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00;G01L27/00
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 方清
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 压力 测量 校正 装置 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种压力测量校正装置,其特征在于,包括连接套(1)、受力接头(2)、转接套(3),所述连接套(1)两端分别设置有第一通孔(101)和第二通孔(102),所述第二通孔(102)上固定套结有所述转接套(3),所述第一通孔(101)内设置有所述受力接头(2),所述第一通孔(101)与所述受力接头(2)之间间隙根据确定,R1是所述第一通孔(101)的孔径,R2是所述受力接头(2)外径,表示所述受力接头(2)的预设最大可偏转角度,表示所述第一通孔(101)外侧端面与所述转接套(3)抵接所述受力接头(2)的端面之间的距离, 所述转接套(3)抵接所述受力接头(2),所述受力接头(2)抵接所述转接套(3)的一端端面为圆弧面(201)。

2.根据权利要求1所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述转接套(3)为包含外螺纹的实心连接结构或包含配合孔(301)的套筒结构,所述外螺纹用于适配带内螺纹结构的传感器测头,所述配合孔(301)用于适配带实心圆柱结构的传感器测头。

3.根据权利要求1所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述第一通孔(101)内壁设置有至少两层第一密封环槽(103),所述第一密封环槽(103)内设置有第一密封圈。

4.根据权利要求3所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述第一密封圈内径R3、所述第一密封圈直径R4与所述第一密封环槽(103)直径R5之间的关系为:(R5-R3)<2×R4

5.根据权利要求2所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述配合孔(301)内侧壁设有至少一层所述第二密封环槽,所述第二密封环槽内设置有第二密封圈。

6.根据权利要求1所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述圆弧面(201)为球面结构。

7.根据权利要求1-6任一所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述转接套(3)设有定位面(302)。

8.根据权利要求7所述的压力测量校正装置,其特征在于,所述连接套(1)与所述转接套(3)螺纹连接或过盈配合连接。

9.一种如权利要求1-8任一所述的压力测量校正装置的使用方法,其特征在于,包含以下步骤:

a.将所述转接套(3)与压力传感器(5)连接;

b.将压力加载装置(4)与所述受力接头(2)相连,若所述受力接头(2)与所述第一通孔(101)孔壁存在接触,调整压力加载装置(4)方向,使所述受力接头(2)与所述第一通孔(101)不接触为止。

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