[发明专利]一种物理实验光屏成像分析方法

权利要求书

1.一种物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

采集图像并输入；

获取输入的所述图像中的光屏图；

获取所述光屏图中的成像图；

根据所述成像图判断成像清晰度、大小及虚实。

2.如权利要求1所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，获取所述光屏图的具体步骤为：

将输入的所述图像经尺寸调整和填充处理到统一尺寸；

将统一尺寸处理后的图像进行归一化预处理；

对归一化预处理后的图像进行目标检测以对光屏进行矩形框选；

对框选的区域进行外扩后的抠图以得到光屏图。

3.如权利要求2所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，所述图像的目标检测采用目标检测网络。

4.如权利要求1所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，获取所述成像图的具体步骤为：

将所述光屏图调整至固定尺寸；

将调整后的光屏图进行归一化处理；

对归一化处理后的图像进行关键点检测并根据检测的关键点得到仿射变换矩阵；

根据得到的所述仿射变换矩阵对输入的所述图像进行仿射变换，投影得到正视图；

对所述正视图做HSV颜色空间阈值处理，得到成像的发光轮廓；

在发光轮廓外拟合最小外接矩形框，得到成像图。

5.如权利要求4所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，所述图像的关键点检测采用关键点回归网络。

6.如权利要求1所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像清晰度判断的具体步骤为：

对成像图进行灰度化处理得到灰度图；

对灰度图进行拉普拉斯变换；

统计拉普拉斯变换得到的方差判断成像清晰度。

7.如权利要求1所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像大小判断的具体步骤为：

将成像图的高度与预设的阈值进行对比判断成像的大小。

8.如权利要求1所述的物理实验光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像虚实判断的具体步骤为：

将正视图HSV颜色空间阈值处理后剩余面积与预设的阈值进行对比判断成像的虚实。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-8中任一项所述的物理实验光屏成像分析方法。