[发明专利]基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统及方法在审

专利信息
申请号: 202210429547.8 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN114894815A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 张东波;王卓琳;张永群;王易豪;赵宇翔 申请(专利权)人: 上海市建筑科学研究院有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01B11/00;G01B11/06;G01B11/22;G01B11/28;G01B11/30;H04W12/03
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 孟旭彤
地址: 200032 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 三维 激光 扫描 技术 建筑 外立面 缺陷 识别 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统,其特征是,包括有:

激光器,用于发射激光脉冲信号;

激光测距模块,测量与被测建筑外立面之间的距离;

扫描装置,扫描计算获取扫描点的三维坐标值;

固定支座,用于固定安装扫描装置;

数据采集模块,采集外立面三维点云数据;

无线传输数据模块,通过加密WiFi无线传输三维点云数据;

数据处理模块,接收传输的三维点云数据并处理;

控制模块,对激光器、激光测距模块、数据采集模块、扫描装置进行设定及操作控制;

终端设备,成像显示处理结果,用于调用、回看、存储数据。

2.根据权利要求1所述的基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统,其特征是:所述扫描装置测量水平扫描角和竖直扫描角,通过极坐标原理计算得到扫描点的三维坐标值。

3.根据权利要求1所述的基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统,其特征是:所述数据处理模块进行点云滤波、配准、分割、拼接处理、三维重建、平整度提取、等高线生成和等高线面积定量化数据处理。

4.根据权利要求1所述的基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统,其特征是:所述激光器有序发射激光脉冲信号,发射激光波长为1550nm。

5.根据权利要求1所述的基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别系统,其特征是:还包括有连接于固定支座用于调整安装扫描装置的三角可伸缩支架。

6.一种基于三维激光扫描技术的建筑外立面缺陷识别方法,其特征是,包括有以下步骤:

S1、根据被测建筑外立面的距离和面积,确定三维激光扫描的测站位置和次数,设置激光信号的激励电压和信号采集精度,调试合适强度的激光脉冲信号;

S2、测量测站位置与被测目标表面测点之间的距离、水平扫描角和竖直扫描角,基于极坐标原理计算测点的三维坐标;通过扫描装置进行自动扫描,获取外立面被测表面的外立面三维点云数据;

S3:无线传输数据模块将三维点云数据通过加密WiFi传至数据处理模块,进行点云滤波、配准、分割和拼接处理,建立外立面三维数字化模型;

S4:基于三维数字化模型提取外立面平整度进行成像,生成外立面等高线,依据外立面缺陷判别准则确定缺陷位置、凸出缺陷高度/凹陷缺陷深度、缺陷面积,定量化识别缺陷;

S5:通过终端设备在现场实时显示外立面三维数字化模型、平整度图像和等高线图,计算、显示、存储每一所选缺陷的位置、高度/深度、面积。

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