[发明专利]一种MLCC印刷电极烧结后电极覆盖率的测量方法在审
申请号: | 202210429610.8 | 申请日: | 2022-04-22 |
公开(公告)号: | CN115032217A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 刘亮;沈玉娥;战勇;葛彦书;刘才奎;高辉;黄心笛;沈梦楠;王道宇 | 申请(专利权)人: | 大连达利凯普科技股份公司 |
主分类号: | G01N23/2202 | 分类号: | G01N23/2202;G01N23/2251 |
代理公司: | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人: | 毕进 |
地址: | 116630 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mlcc 印刷 电极 烧结 覆盖率 测量方法 | ||
一种MLCC印刷电极烧结后电极面积的测量方法,包括如下步骤:S1、在不破坏电极层的前提下,把产品多余的陶瓷部分研磨去除,电源的负极接触产品的电极层,电源的正极接触溶液;S2、剥离后使用纯水洗干净;S3、干燥后用SEM电镜扫描成图像;S4、用PS软件进行二值化处理测量或者其他软件计算剥离电极层的占空比。所述步骤S1中,所述电源使用直流电源,所述电源的负极接触产品的双电极,所述电源的正极接触溶液,所述电源使用小功率电压进行剥离,剥离时长视产品尺寸而定。本发明可以直接进行有限电极面积的测量,并不是通过估算的方法,避免估算的影响导致产品导入及调整时产生偏差,造成巨大损失。
技术领域
本发明属于技术领域,具体涉及一种MLCC印刷电极烧结后电极覆盖率的测量方法。
背景技术
目前在MLCC行业中,烧结后电极层的覆盖率没有方法进行测量,一般使用电极层的长宽乘积代表实际的电极面积,前提是烧结后的电极覆盖率为100%,然而实际烧结过程中,金属会发生团聚收缩,并不会产生正常印刷图形一样100%的覆盖率,然而,若通过切割电极层的方式将电极层裸露出来,会使电极层内部的空隙变形,从而使得电极覆盖率的测量不准确。
发明内容
为了解决上述存在的问题,本发明提出:一种MLCC印刷电极烧结后电极覆盖率的测量方法,包括如下步骤:
S1、在不破坏电极层的前提下,把产品多余的陶瓷部分研磨去除,电源的负极接触产品的电极层,电源的正极接触溶液;
S2、剥离后使用纯水洗干净;
S3、干燥后用SEM电镜扫描成图像;
S4、用PS软件进行二值化处理测量或者其他软件计算剥离电极层的占空比。
进一步地,所述步骤S1中,所述电源使用直流电源,所述电源的负极接触产品的双电极,所述电源的正极接触溶液,所述电源使用小功率电压进行剥离,剥离时长视产品尺寸而定。
进一步地,所述步骤S1中,电极层为完全裸露的状态,且电源的负极完全准确接触上电极层。
进一步地,所述溶液是强碱性溶液。
本发明的有益效果为:本发明可以直接进行有限电极面积的测量,并不是通过估算的方法,避免估算的影响导致产品导入及调整时产生偏差,造成巨大损失。本发明将陶瓷部分研磨去除,用溶液和通电的方式使电极层裸露出来,这样不会破坏电极层内部空隙的变形,从而使,不会像切割的方式使电极层内部空隙变形,从而使得电极覆盖率的测量更准确。
附图说明
图1为本发明操作的流程图;
图2为本发明的装置结构图;
图3为本发明的SEM电镜扫描图;
图4为本发明的SEM电镜扫描图黑色像素值;
图5为本发明的SEM电镜扫描图白色像素值。
具体实施方式
一种MLCC印刷电极烧结后电极覆盖率的测量方法,技术方案如下:如图1所示,包括如下步骤:S1、在不破坏电极层的前提下,把产品多余的陶瓷部分研磨去除,电源的负极接触产品的电极层,电源的正极接触溶液;
S2、剥离后使用纯水洗干净;
S3、干燥后用SEM电镜扫描成图像;详见图3所示;
S4、用PS软件进行二值化处理测量或者其他软件计算剥离电极层的占空比。如图4-5所示,测量出剥离层的黑像素表示空隙,剥离层的白像素表示本产品的电极层,孔隙率为160901/1152134=13.965476%,覆盖率为1-13.965476%=86.034524%,如表1所示。
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