[发明专利]一种授铁工艺段温度检测方法、装置及系统

权利要求书

1.一种授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，包括：

确定撇渣器温度检测点温度、龙沟温度检测点温度、摆嘴温度检测点温度以及铁包温度检测点温度；

确定撇渣器温度检测点、龙沟温度检测点、摆嘴温度检测点或者铁包温度检测点中任一温度检测点的温度包括：

获取温度检测点的热图像、发射率；

根据所述热图像确定发射率修正系数；

采用所述发射率修正系数修正所述发射率，得到修正发射率；

通过所述修正发射率确定温度检测点的温度。

2.如权利要求1所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，获取温度检测点的热图像包括：

获取温度检测点的原始热图像，消除所述原始热图像内的遮挡干扰元素，以得到所述热图像。

3.如权利要求1所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，根据所述热图像确定发射率修正系数包括：

将所述热图像作为输入，采用第一模型提取所述热图像的图像特征，得到图像特征向量；

将所述图像特征向量所述输入，采用第二模型确定所述发射率修正系数。

4.如权利要求3所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，将所述热图像输入，采用第一模型提取所述热图像的图像特征，得到图像特征向量包括：

获取热图像序列，采用所述第一模型依次提取每个所述热图像的图像特征，生成图像特征序列；

将所述图像特征向量所述输入，采用第二模型确定所述发射率修正系数包括：

采用所述图像特征序列，通过所述第二模型依次确定每个所述图像特征的修正系数，生成修正系数序列；

还包括：

根据所述修正系数序列，采用第三模型确定所述发射率修正系数。

5.如权利要求4所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，所述第一模型包括卷积神经网络模型，所述第二模型包括循环神经网络模型。

6.如权利要求4所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，所述第三模型包括支持向量回归模型。

7.如权利要求1所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，确定任一温度检测点的温度包括：

获取温度检测点的至少两个波段的热图像，获取温度检测点的发射率；

分别确定与每个波段的所述热图像对应的单波段修正系数，采用全部的所述单波段修正系数确定发射率修正系数；

采用所述发射率修正系数修正所述发射率，得到修正发射率；

通过所述修正发射率确定温度检测点的温度。

8.如权利要求1所述的授铁工艺段温度检测方法，其特征在于，所述撇渣器温度检测点温度、龙沟温度检测点温度、摆嘴温度检测点温度以及铁包温度检测点温度作为调整授铁工艺段内铁水的流量的依据。

9.一种授铁工艺段温度检测装置，其特征在于，包括温度检测单元，所述温度检测单元用于：

确定撇渣器温度检测点温度、龙沟温度检测点温度、摆嘴温度检测点温度以及铁包温度检测点温度；

确定撇渣器温度检测点、龙沟温度检测点、摆嘴温度检测点或者铁包温度检测点中任一温度检测点的温度包括：

获取温度检测点的热图像、发射率；

根据所述热图像确定发射率修正系数；

采用所述发射率修正系数修正所述发射率，得到修正发射系数；

通过所述修正发射系数确定温度检测点的温度。

10.一种授铁工艺段温度检测系统，其特征在于，包括控制器，所述控制器配置有可执行程序，所述可执行程序运行时用于实现权利要求1至8任一所述的授铁工艺段温度检测方法。