[发明专利]一种质量弹簧阻尼特性仿真方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210438475.3 申请日: 2022-04-25
公开(公告)号: CN114880793A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 张惠平 申请(专利权)人: 张惠平
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F30/20;G06F119/14
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 张璐
地址: 430070 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 质量 弹簧 阻尼 特性 仿真 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种质量弹簧阻尼特性仿真方法,其特征在于,包括:

获取实际质量弹簧阻尼装置的真实参数,基于所述真实参数构建质量弹簧阻尼仿真模型;

根据特性仿真需求,确定质量弹簧阻尼的仿真条件,基于所述仿真条件与所述质量弹簧阻尼仿真模型构建仿真环境;

基于所述仿真条件在所述仿真环境内对所述质量弹簧阻尼仿真模型进行仿真,得到与所述特性仿真需求对应的质量弹簧阻尼特性。

2.根据权利要求1所述的质量弹簧阻尼特性仿真方法,其特征在于,所述实际质量弹簧阻尼装置包括光栅尺、若干个质量块以及若干个弹簧;所述特性仿真需求包括系统参数辨识需求;所述根据特性仿真需求,确定质量弹簧阻尼的仿真条件,基于所述仿真条件与所述质量弹簧阻尼仿真模型构建仿真环境,基于所述仿真条件在所述仿真环境内对所述质量弹簧阻尼仿真模型进行仿真,得到与所述特性仿真需求对应的质量弹簧阻尼特性,包括:

根据所述系统参数辨识需求,设置所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数,在所述仿真环境内,获取所述实际质量弹簧阻尼装置的光栅尺数据波形;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数、弹簧参数以及光栅尺数据波形,确定所述实际质量弹簧阻尼装置的特性参数。

3.根据权利要求2所述的质量弹簧阻尼特性仿真方法,其特征在于,所述特性仿真需求还包括单自由度系统仿真需求;所述根据特性仿真需求,确定质量弹簧阻尼的仿真条件,基于所述仿真条件与所述质量弹簧阻尼仿真模型构建仿真环境,基于所述仿真条件在所述仿真环境内对所述质量弹簧阻尼仿真模型进行仿真,得到与所述特性仿真需求对应的质量弹簧阻尼特性,包括:

根据所述单自由度系统仿真需求,设置所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数,在所述仿真环境内,获取所述实际质量弹簧阻尼装置的光栅尺数据波形;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数、弹簧参数以及光栅尺数据波形,确定所述单自由度系统仿真模块的数学模型的特性参数。

4.根据权利要求2所述的质量弹簧阻尼特性仿真方法,其特征在于,所述特性仿真需求还包括刚体PID控制仿真需求;所述根据特性仿真需求,确定质量弹簧阻尼的仿真条件,基于所述仿真条件与所述质量弹簧阻尼仿真模型构建仿真环境,基于所述仿真条件在所述仿真环境内对所述质量弹簧阻尼仿真模型进行仿真,得到与所述特性仿真需求对应的质量弹簧阻尼特性,包括:

根据所述刚体PID控制仿真需求,设置所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数,在所述仿真环境内,获取所述实际质量弹簧阻尼装置的光栅尺数据波形;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数、弹簧参数以及光栅尺数据波形设置比例系数,确定所述刚体PID控制仿真模块的数学模型的特性参数。

5.根据权利要求4所述的质量弹簧阻尼特性仿真方法,其特征在于,所述特性仿真需求还包括双自由度系统仿真需求;所述根据特性仿真需求,确定质量弹簧阻尼的仿真条件,基于所述仿真条件与所述质量弹簧阻尼仿真模型构建仿真环境,基于所述仿真条件在所述仿真环境内对所述质量弹簧阻尼仿真模型进行仿真,得到与所述特性仿真需求对应的质量弹簧阻尼特性,包括:

根据所述双自由度系统仿真需求,设置所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数以及弹簧参数,在所述仿真环境内,获取所述实际质量弹簧阻尼装置的光栅尺数据波形;

根据所述实际质量弹簧阻尼装置的质量块参数、弹簧参数以及光栅尺数据波形设置比例系数,确定所述双自由度系统的数学模型的特性参数。

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