[发明专利]小多边形栅格化在审
申请号: | 202210455657.1 | 申请日: | 2022-04-27 |
公开(公告)号: | CN115409683A | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | J·加西亚帕博;S·马余兰;R·K·米亚尔;V·V·契吾库拉;K·玛利克;A·瓦什尼 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20;G06T15/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 任曼怡;黄嵩泉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多边形 栅格 | ||
1.一种计算系统,包括:
网络控制器;以及
图形处理器,所述图形处理器耦合至所述网络控制器,其中,所述图形处理器包括耦合至一个或多个衬底的逻辑,所述逻辑用于:
基于图形多边形的位置来选择像素块的位置,其中所述像素块用于包含所述图形多边形,以及
在单个事务期间将所述图形多边形转换成所述像素块内的基于像素的表示。
2.如权利要求1所述的计算系统,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中所述图形多边形小于所述像素块的尺寸过小情况,以及
检测其中所述图形多边形与多个未对齐的像素块重叠的未对齐情况。
3.如权利要求2所述的计算系统,其特征在于,所述像素块的位置用于响应于所述尺寸过小情况和所述未对齐情况而被选择。
4.如权利要求1所述的计算系统,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中输入的多边形大于所述像素块的尺寸过大情况,以及
响应于所述尺寸过大情况而减小所述输入的多边形的尺寸,以获得所述图形多边形。
5.如权利要求1所述的计算系统,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中输入的多边形大于所述像素块的尺寸过大情况,以及
响应于所述尺寸过大情况而放大所述像素块的尺寸。
6.如权利要求1-5中任一项所述的计算系统,其特征在于,为了选择所述像素块的位置,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于调整未对齐的像素块的中心位置。
7.一种半导体设备,包括:
一个或多个衬底;以及
逻辑,所述逻辑耦合至所述一个或多个衬底,其中所述逻辑至少部分地被实现在可配置硬件逻辑或固定功能硬件逻辑中的一者或多者中,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
基于图形多边形的位置来选择像素块的位置,其中所述像素块用于包含所述图形多边形;以及
在单个事务期间将所述图形多边形转换成所述像素块内的基于像素的表示。
8.如权利要求7所述的半导体设备,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中所述图形多边形小于所述像素块的尺寸过小情况;以及
检测其中所述图形多边形与多个未对齐的像素块重叠的未对齐情况。
9.如权利要求8所述的半导体设备,其特征在于,所述像素块的位置用于响应于所述尺寸过小情况和所述未对齐情况而被选择。
10.如权利要求7所述的半导体设备,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中输入的多边形大于所述像素块的尺寸过大情况;以及
响应于所述尺寸过大情况而减小所述输入的多边形的尺寸,以获得所述图形多边形。
11.如权利要求7所述的半导体设备,其特征在于,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于:
检测其中输入的多边形大于所述像素块的尺寸过大情况;以及
响应于所述尺寸过大情况而放大所述像素块的尺寸。
12.如权利要求7-11中任一项所述的半导体设备,其特征在于,为了选择所述像素块的位置,耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于调整未对齐的像素块的中心位置。
13.至少一种计算机可读存储介质,包括一组指令,所述指令在由计算系统执行时使所述计算系统用于:
基于图形多边形的位置来选择像素块的位置,其中所述像素块用于包含所述图形多边形;以及
在单个事务期间将所述图形多边形转换成所述像素块内的基于像素的表示。
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