[发明专利]显示装置的检查方法

说明书

本发明的目的在于提供一种显示装置的检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。该显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，该第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与第1单位区域相邻且以与第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，该第2测试图案图像以第2灰阶值显示第1单位区域且以第1灰阶值显示第2单位区域，第1单位区域和第2单位区域分别为1个像素。

技术领域

本发明的一个实施方式涉及显示装置的检查方法。具体而言，涉及包含检查缺陷像素的步骤的显示装置的检查方法。

背景技术

作为显示装置的检查方法，公开了通过目视来判定伽马特性的方法(参照专利文献1)。该检查通过如下方式进行：在显示部中，将在一个方向上具有检查色的渐变图案的渐变区域和具有检查色和黑色的区域的抖动(检查图案)区域以相邻的方式配置，在一个方向的同一位置通过目视来比较渐变区域的亮度和抖动区域的亮度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2016-161612号公报。

发明内容

发明要解决的问题

缺陷像素包括坏点(黑点)缺陷和亮点缺陷。具体而言，坏点缺陷包括与影像信号无关地不点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变低的缺陷，亮点缺陷包括与影像信号无关地点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变高的缺陷。目视点亮检查是使显示部进行整面点亮，检查员通过目视来判定有无上述那样的缺陷像素而进行的。但是，如果像素的尺寸因高精细化而变小，则缺陷的尺寸也变小，所以难以判别缺陷像素。例如，坏点缺陷被包围坏点缺陷的周边像素的光掩埋，难以通过视觉来检测坏点缺陷。由于这样的理由，仅显示测试图案并通过目视来判别缺陷像素的有无的检查伴随着像素的高精细化而变得困难，识别缺陷像素的精度的降低、偏差成为问题。

鉴于这样的问题，本发明的一个实施方式的目的在于提供一种检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。

用于解决问题的技术手段

本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，所述第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与所述第1单位区域相邻且以与所述第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，所述第2测试图案图像以所述第2灰阶值显示所述第1单位区域且以所述第1灰阶值显示所述第2单位区域，所述第1单位区域和所述第2单位区域分别为1个像素。

根据本发明，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。

附图说明

图1是表示本发明的一个实施方式的显示装置的概略结构的图。

图2是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。

图3是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。

图4A表示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。

图4B表示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。

图5是表示本发明的一个实施方式的第1测试图案图像中包含缺陷像素时的显示状态的图。

图6是表示显示本发明的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。