[发明专利]超声、涡流、磁粉检测灵敏度校准一体试块与测试方法在审

专利信息
申请号: 202210473674.8 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114813970A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 涂占宽;范振中;王涛;石振平;王岩;黄凤英;史启帅 申请(专利权)人: 中国铁道科学研究院集团有限公司金属及化学研究所;北京中铁科新材料技术有限公司;中国铁道科学研究院集团有限公司
主分类号: G01N29/30 分类号: G01N29/30;G01N27/90;G01N27/84
代理公司: 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 代理人: 黄庆芳
地址: 100081 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 超声 涡流 检测 灵敏度 校准 一体 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种一体试块,其特征在于,包括背向设置的第一检测面和第二检测面,所述第一检测面上开设有沿长度方向依次排列设置的第一刻槽、第二刻槽、第三刻槽、第四刻槽、第五刻槽和第六刻槽,所述第一检测面上覆盖有涂层,所述第二检测面上开设有沿所述长度方向依次排列设置的第七刻槽和第八刻槽。

2.根据权利要求1所述的一体试块,其特征在于,所述涂层包括依次相连接且沿宽度方向排列设置的0mm厚度涂层、1mm厚度涂层、2mm厚度涂层、4mm厚度涂层和6mm厚度涂层,且每种厚度涂层的宽度均大于或等于20mm。

3.根据权利要求2所述的一体试块,其特征在于,所述第一刻槽、所述第二刻槽、所述第三刻槽、所述第四刻槽、所述第五刻槽、所述第六刻槽、所述第七刻槽和所述第八刻槽的长度均贯穿所述宽度方向。

4.根据权利要求3所述的一体试块,其特征在于,所述一体试块包括相对设置的第一端和第二端,所述第一刻槽与所述第一端的距离为50mm,所述第六刻槽与所述第二端的距离为50mm,所述第七刻槽与所述第一端的距离为220mm,所述第八刻槽与所述第二端的距离为220mm,所述第一刻槽、所述第二刻槽、所述第三刻槽、所述第四刻槽、所述第五刻槽、所述第六刻槽的刻槽宽度均为0.1mm且相邻两刻槽之间的间距均为100mm,所述第一刻槽的深度为0.3mm,所述第二刻槽的深度为0.5mm,所述第三刻槽的深度为1mm,所述第四刻槽的深度为2mm,所述第五刻槽的深度为3mm,所述第六刻槽的深度为5mm,所述第七刻槽、所述第八刻槽的刻槽宽度均为2mm,所述第七刻槽的刻槽深度为0.5mm,所述第八刻槽的深度为1mm。

5.根据权利要求4所述的一体试块,其特征在于,所述一体试块的长度大于或等于600mm,所述一体试块的宽度大于或等于100mm,所述一体试块的高度为5mm-15mm。

6.根据权利要求5所述的一体式块,其特征在于,所述一体试块为经过无损探伤检测后的合格试块。

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