[发明专利]一种线粒体探针的荧光强度校正方法、细胞浓度检测方法有效
| 申请号： | 202210495602.3 | 申请日： | 2022-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN114577774B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 李国平;黄兴琳;陆煜桐;王希希;冯禹;郭鹏;王昊晟;范神栋 | 申请（专利权）人： | 泛肽生物科技（浙江）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 浙江中桓凯通专利代理有限公司 33376 | 代理人： | 杨靖茹 |
| 地址： | 315000 浙江省宁波市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 线粒体 探针 荧光 强度 校正 方法 细胞 浓度 检测 | ||
1.一种线粒体探针的荧光强度校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
S110：获取标准样本的细胞浓度值X，检测所述细胞浓度值X对应的线粒体探针的荧光强度值Y；
S120：根据所述细胞浓度值X和所述荧光强度值Y建立Logit校正模型；
S130：根据所述Logit校正模型，将待测样本的荧光强度真实值yi校正为荧光强度校正值yk；
所述Logit校正模型通过以下方式获得：
S121：根据所述细胞浓度值X确定细胞浓度处理值；
S122：根据所述荧光强度值Y确定荧光强度处理值；
S123：所述Logit校正模型由所述细胞浓度处理值和所述荧光强度处理值线性回归得到；
所述细胞浓度处理值为所述细胞浓度值X的对数值；
所述荧光强度处理值为所述荧光强度值Y的对数值；
所述Logit校正模型为：log（Y）=nlog（X）+a；
其中，n为常量，a为常量；
步骤S130包括以下步骤：
S131：获取所述待测样本的细胞浓度真实值xi，检测所述细胞浓度真实值xi对应的荧光强度真实值yi；
S132：根据所述Logit校正模型，将所述荧光强度真实值yi校正为同一细胞浓度校正值xk对应的荧光强度校正值yk；
所述细胞浓度真实值xi和所述荧光强度真实值yi满足所述Logit校正模型：log（yi）=nlog（xi）+a；
所述细胞浓度校正值xk和所述荧光强度校正值yk满足所述Logit校正模型：log（yk）=nlog（xk）+a；
所述荧光强度校正值yk由所述细胞浓度真实值xi、所述荧光强度真实值yi、所述细胞浓度校正值xk和所述常量n确定得到：
。
2.根据权利要求1所述的一种线粒体探针的荧光强度校正方法，其特征在于，n的取值范围为-0.8~-0.5。
3.根据权利要求1所述的一种线粒体探针的荧光强度校正方法，其特征在于，所述细胞浓度值X为白细胞浓度值。
4.一种基于线粒体探针的细胞浓度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S210：获取线粒体探针标记的待测样本，检测所述线粒体探针的荧光强度值yn；
S220：根据Logit校正模型，确定所述待测样本的细胞浓度值xn；
其中，所述Logit校正模型由权利要求1至3中任一项提供的校正方法建立得到。
5.根据权利要求4所述的一种基于线粒体探针的细胞浓度检测方法，其特征在于，所述细胞浓度值xn和所述荧光强度值yn满足log（yn）=nlog（xn）+a；
其中，n为常量，a为常量。
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