[发明专利]一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法、系统及平台在审

专利信息
申请号: 202210498703.6 申请日: 2022-05-09
公开(公告)号: CN116123993A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 段存立 申请(专利权)人: 东莞市兆丰精密仪器有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;H05B47/10
代理公司: 深圳市优赛诺知识产权代理事务所(普通合伙) 44461 代理人: 姜芬
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二次元 测量 光源 亮度 自动 校正 方法 系统 平台
【权利要求书】:

1.一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法,其特征在于所述方法具体包括如下步骤:

根据光源调节电路,实时对光源进行线性调节;

对不同设备下成像的明亮度进行光源校正;

于亮度校正后,实时拉动光源调节滑杆,并确定启亮和过曝位置关系。

2.根据权利要求1所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法,其特征在于所述的对光源进行线性调节,具体为通过调节电子电路,令到输入光源电流值与输出光源电流成较好的线性关系。

3.根据权利要求1所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法,其特征在于所述步骤对不同设备下成像的明亮度进行光源校正之中,还包括如下步骤:

根据光源实时自动计算校正。

4.根据权利要求1或3所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法,其特征在于所述步骤对不同设备下成像的明亮度进行光源校正之中,还包括如下步骤:

判定测量时成像的明亮度是否一致。

5.根据权利要求1或3所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正方法,其特征在于所述步骤于亮度校正后,实时拉动光源调节滑杆,并确定启亮和过曝位置关系之中,还包括如下步骤:

判定启亮和过曝位置关系是否一致。

6.一种基于二次元测量光源亮度自动校正系统,其特征在于所述系统具体包括:

线性调节单元,用于根据光源调节电路,实时对光源进行线性调节;

光源校正单元,用于对不同设备下成像的明亮度进行光源校正;

位置确定单元,用于于亮度校正后,实时拉动光源调节滑杆,并确定启亮和过曝位置关系。

7.根据权利要求6所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正系统,其特征在于所述光源校正单元中,还设置有:

计算校正模块,用于根据光源实时自动计算校正;

第一判定模块,用于判定测量时成像的明亮度是否一致。

8.根据权利要求6所述的一种基于二次元测量光源亮度自动校正系统,其特征在于所述位置确定单元中,还设置有:

第二判定模块,用于判定启亮和过曝位置关系是否一致。

9.一种基于二次元测量光源亮度自动校正平台,其特征在于,包括:处理器、存储器以及基于二次元测量光源亮度自动校正平台控制程序;

其中在所述的处理器执行所述的基于二次元测量光源亮度自动校正平台控制程序,所述的基于基于二次元测量光源亮度自动校正平台控制程序被存储在所述存储器中,所述的基于二次元测量光源亮度自动校正平台控制程序,实现如权利要求1至5中任一项所述的基于二次元测量光源亮度自动校正方法步骤。

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