[发明专利]一种屏幕检测方法以及装置

权利要求书

1.一种屏幕检测方法，其特征在于，所述屏幕是电子设备的屏幕，所述方法包括：

通过对目标电子设备的屏幕进行光学相干层析OCT光学成像处理，获取所述屏幕中的多个层结构的层厚度信息；

根据所述多个层结构的层厚度信息确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕，和/或，确定所述屏幕中是否存在非原装的层结构。

2.根据权利要求1所述的屏幕检测方法，其特征在于，所述根据所述多个层结构的层厚度信息确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕，包括以下至少一者：

根据所述多个层结构的总厚度确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕；

根据所述多个层结构中每一个层结构的层厚度确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕；

根据所述多个层结构中指定的一个或多个层结构的层厚度确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕。

3.根据权利要求1所述的屏幕检测方法，其特征在于，所述根据所述多个层结构的层厚度信息确定所述屏幕中是否存在非原装的层结构，包括以下至少一者：

根据所述多个层结构中每一个层结构的层厚度确定每一个层结构是否为非原装的层结构；

根据所述多个层结构中指定的层结构的层厚度确定指定的层结构是否为非原装的层结构。

4.根据权利要求1所述的屏幕检测方法，其特征在于，其中，

通过将目标电子设备的屏幕的多个层结构的层厚度与原装电子设备的屏幕中多个层结构的层厚度进行匹配，确定目标电子设备的屏幕是否为原装屏幕，和/或，确定目标电子设备的屏幕中是否存在非原装的层结构；

其中，所述原装电子设备与所述目标电子设备符合以下至少一者：型号相同、来自相同的供应商、生产批次相同。

5.根据权利要求1所述的屏幕检测方法，其特征在于，还包括：

基于多个种类的电子设备的原装屏幕中多个层结构的层厚度信息，建立电子设备原装屏幕的厚度信息数据库，其中所述电子设备原装屏幕的厚度信息数据库用于与目标电子设备的屏幕的多个层结构的层厚度信息进行匹配，以确定目标电子设备的屏幕是否为原装屏幕，和/或，确定目标电子设备的屏幕中是否存在非原装的层结构。

6.根据权利要求1所述的屏幕检测方法，其特征在于，所述根据所述多个层结构的层厚度信息确定所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕，和/或，确定所述屏幕中是否存在非原装的层结构，包括：

将目标电子设备的身份信息和目标电子设备的屏幕的多个层结构的层厚度信息输入经过训练的神经网络模型中；

接收所述神经网络模型输出的预测结果，所述预测结果包括：所述屏幕是否为电子设备的原装屏幕，和/或，所述屏幕中是否存在非原装的层结构；

其中，所述神经网络模型的训练数据包括以下至少一者：多个种类的电子设备的原装屏幕中多个层结构的层厚度信息、多个种类的电子设备的非原装屏幕中多个层结构的层厚度信息、多个种类的电子设备的非原装屏幕中的原装层结构以及非原装层结构的层厚度信息。

7.根据权利要求5或6所述的屏幕检测方法，其特征在于，所述多个种类的电子设备包括以下至少一者：多种型号的电子设备、来自不同供应商的同一种型号的电子设备、来自不同批次的同一型号的电子设备。