[发明专利]一种用于丝绢文物的光损伤测试方法

权利要求书

1.一种用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，包括以下步骤：

S1、对待测试丝绢文物进行光辐照试验：将相同的待测试丝绢文物的样品分为M组，将每一组样品分别放置在不同频率的单色光源下进行照射，并且分别实时监测每个单色光源的相对光谱功率分布，其中，M为正整数；

S2、计算结晶度指数：将总的辐照时长分为等分为N个辐照周期，记录每个辐照周期的结晶度指数和曝光量，其中，N为正整数，所述结晶度指数的计算方法如下：

C_FTIR＝A₁₂₆₃/(A₁₂₃₀+A₁₂₆₃)

其中，C_FTIR代表样品的结晶度指数，A₁₂₃₀和A₁₂₆₃则分别代表光谱为1230cm^-1和1263cm^-1处信号的特征峰面积；

S3、获得相对响应率函数：对每一组样品对应的单色光源的波长和各自在每个辐照周期的曝光量进行多项式拟合，得到样品对波长和曝光量的相对响应率函数f(λ,Q)，

其中，λ为波长，Q为曝光量；

S4、获得样品在可见波段的照明损伤度计算方法：

其中，D为照明损伤度，S(λ)为照射光源的相对光谱功率分布。

2.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，步骤S1中，将每一组样品放置在转盘上，所述转盘保持连续匀速转动。

3.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，每一组表面辐照度被设定为10W/m²，辐照周期设置为6个，即N＝6。

4.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，将样品分为10组，即M＝10，选取447nm、475nm、500nm、519nm、541nm、595nm、625nm、635nm、658nm、733nm十个波段的窄带光源分别作为每一组样品对应的单色光源。

5.根据权利要求3所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，每个辐照周期的时长为240h，即每个辐照周期的曝光量Q为2400W·h/m²。

6.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，步骤S2中，根据每一组样品在每一个辐照周期所采集到的各数据点对应的C_FTIR计算结果，以λ为X轴，Q为Y轴，C_FTIR为Z轴创建可视化的样品相对响应率的拟合曲线，从而得到样品对波长和曝光量的相对响应率函数f(λ,Q)，

其中，λ为波长，Q为曝光量。

7.根据权利要求1所述的用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，通过光谱仪测量实时监测每一组照射光源的所述相对光谱功率分布。