[发明专利]一种自支撑的MEMS红外光源及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210505995.1 申请日: 2022-05-11
公开(公告)号: CN114890373A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 陶继方;树东生 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247 代理人: 刘娜
地址: 250013 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 支撑 mems 红外 光源 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种自支撑的MEMS红外光源,其特征在于,包括由下到上依次设置的硅衬底、介质薄膜、加热电阻和黑体辐射层,所述加热电阻通过金属剥离工艺形成图形结构,所述黑体辐射层位于加热电阻的中间区域,所述硅衬底背面通过刻蚀形成贯穿硅衬底的背洞区域,位于黑体辐射层下方的介质薄膜被刻蚀掉。

2.根据权利要求1所述的一种自支撑的MEMS红外光源,其特征在于,所述介质薄膜材质选自二氧化硅、氮化硅、氮氧化硅中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的一种自支撑的MEMS红外光源,其特征在于,所述加热电阻为铂金材质。

4.根据权利要求1所述的一种自支撑的MEMS红外光源,其特征在于,所述黑体辐射层材质为铂黑、碳纳米管或多孔硅。

5.一种如权利要求1所述的自支撑的MEMS红外光源的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、选自一张硅晶圆作为硅衬底;

S2、在硅衬底上使用薄膜生长技术沉积一层介质薄膜;

S3、在介质薄膜上沉积加热电阻,并通过金属剥离工艺形成图形结构;

S4、在加热电阻的中间区域沉积黑体辐射层;

S5、对硅衬底背面进行刻蚀,形成贯穿硅衬底的背洞区域;

S6、使用刻蚀方法将黑体辐射层下方的介质薄膜去除。

6.根据权利要求5所述的一种自支撑的MEMS红外光源的制备方法,其特征在于,步骤S2中,所述薄膜生长技术为PECVD方法。

7.根据权利要求5所述的一种自支撑的MEMS红外光源的制备方法,其特征在于,步骤S3中,使用电子束蒸镀或者溅射工艺沉积加热电阻。

8.根据权利要求5所述的一种自支撑的MEMS红外光源的制备方法,其特征在于,步骤S4中,通过电镀的方法沉积黑体辐射层。

9.根据权利要求5所述的一种自支撑的MEMS红外光源的制备方法,其特征在于,步骤S5中,采用ICP干法刻蚀技术进行刻蚀形成背洞区域。

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