[发明专利]红外热像仪的标定方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210509274.8 | 申请日: | 2022-05-11 |
公开(公告)号: | CN115014543A | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 万继敏;艾葳 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01J5/80 | 分类号: | G01J5/80;G06T7/80 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 黄启行 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 热像仪 标定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种红外热像仪的标定方法,其特征在于,包括:
确定红外热像仪的待标定波段;
针对多个测试温度中的每一个测试温度,获取所述红外热像仪在所述待标定波段下,对测试目标在该测试温度且不同测试距离下分别检测得到的红外灰阶图像;其中,所述测试温度为所述测试目标的温度;所述测试距离为所述测试目标与所述红外热像仪之间的距离,且所述测试距离不为0;
根据每一个测试温度得到的多个红外灰阶图像,确定出在每一个测试温度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值;
根据每一个测试温度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值,确定所述红外热像仪在所述待标定波段下的标定曲线。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待标定波段为大气的强吸收带波段。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定红外热像仪的待标定波段之后,在所述针对多个测试温度中的每一个测试温度,获取所述红外热像仪在所述待标定波段下,对测试目标在该测试温度且不同测试距离下分别检测得到的红外灰阶图像之前,还包括:
确定若干个测试距离;
根据所述红外热像仪的灰阶响应量程确定若干个测试温度。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每一个测试温度得到的多个红外灰阶图像,确定出在每一个测试温度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值,包括:
根据每一个测试温度得到的多个红外灰阶图像,计算每一个测试温度下分别与各测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值;
基于每一个测试温度下各测试距离和与各测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值,确定每一个测试温度下所述红外热像仪对不同测试距离的拟合响应曲线;所述拟合响应曲线用于表征测试距离和所述测试目标的红外图像灰阶值的对应关系;
根据所述拟合响应曲线,确定在每一个测试温度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据每一个测试温度得到的多个红外灰阶图像,计算每一个测试温度下分别与各测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值,包括:
针对每一个测试温度得到的多个红外灰阶图像,均执行:
确定该测试距离下检测得到的红外灰阶图像中,所述测试目标所覆盖的所有像素点;
基于所述测试目标所覆盖的所有像素点中每一像素点的红外图像灰阶值,计算所述测试目标所覆盖的所有像素点的红外图像灰阶值的均值,将该均值作为与该所述测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于每一个测试温度下各测试距离和与各测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值,确定每一个测试温度下所述红外热像仪对不同测试距离的拟合响应曲线,包括:
利用一阶衰减指数函数对满足条件的各测试距离及对应的所述测试目标的红外图像灰阶值进行函数拟合,以确定该测试温度下所述红外热像仪对不同所述测试距离的拟合响应曲线;若测试距离对应的所述测试目标的红外图像灰阶值位于所述红外热像仪的灰阶响应量程之内,则确定该测试距离及对应的所述测试目标的红外图像灰阶值满足条件。
7.根据权利要求1-6中任一所述的方法,其特征在于,所述根据每一个测试温度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值,确定所述红外热像仪在所述待标定波段下的标定曲线,包括:
确定所述测试目标在每一个测试温度下的光谱辐射出射度;
基于每一个光谱辐射出射度,以及每一个光谱辐射出射度下测试距离为0时所述测试目标的红外图像灰阶值,来确定所述红外热像仪在所述待标定波段下的标定曲线。
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