[发明专利]一种射线能谱监测系统及能谱修正方法

权利要求书

1.一种射线能谱监测系统，其特征在于：与射线谱仪相结合，包括探测器、信号处理电子学系统和后端数据采集三部分；其中，所述探测器由闪烁体和光探测器件组成；所述射线能谱监测系统通过电压脉冲信号驱动发光源，产生光脉冲信号，输入到探测器的闪烁体和光探测器件内产生参考信号；所述信号处理电子学系统采集探测器信号，其中所述探测器信号既包含待测的真实信号，也包括所述参考信号；所述后端数据采集对信号处理电子学系统输出的信号进行后端数据处理，获得能谱数据；所述射线能谱监测系统根据所述参考信号的漂移程度计算漂移程度一维矩阵；根据原始能谱数据和漂移程度一维矩阵，进行所述能谱数据的修正，得到修正后的能谱数据；计算能谱数据在修正前后的误差。

2.如权利要求1所述的射线能谱监测系统，其特征在于：所述光探测器件为光电倍增管、光电二极管、雪崩型光电倍增管或硅光电倍增管。

3.如权利要求1所述的射线能谱监测系统，其特征在于：所述参考信号与所述射线谱仪的信号脉冲的形状相似，幅度和频率可调。

4.如权利要求1所述的射线能谱监测系统，其特征在于：通过改变参考信号的参数，标定整套射线谱仪的特性漂移矩阵R_mn，其中R表示特征矩阵，m表示幅度的标定数量，n表示频率的标定数量。

5.一种基于权利要求1-4之一所述的射线能谱监测系统的能谱数据修正方法，其步骤包括：

(1)所述射线谱仪测量待测信号能谱数据S_Original；

(2)计算参考信号的漂移程度D_Ri＝P_Ri/P_RRi，其中P_Ri为参考信号的位置，P_RRi为漂移矩阵R_mn中参考信号对应的位置；

(3)根据参考信号的漂移程度D_Ri，插值计算漂移程度一维矩阵D_R，插值方法是线性或最小二乘法；

(4)根据原始能谱数据S_Original和漂移程度一维矩阵D_R，进行能谱数据修正，得到修正后的能谱数据：S_Correction＝S_Original/D_R；

(5)对比原始能谱数据S_Original和修正能谱数据S_Correction，根据特性漂移矩阵R_mn，计算能谱数据在修正前后的误差，分别为：E_Original＝(S_Original-R_mn(:,n))/R_mn(:,n)和E_Correction＝(S_Correction-R_mn(:,n))/R_mn(:,n)，其中，n表示频率的数量。