[发明专利]卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质

权利要求书

1.一种卡件的老化状态分析方法，其特征在于，包括：

获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果；

从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像，并根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果；

通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号，并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号，且根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果；

根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果，对所述待测卡件进行老化状态分析，以获取综合分析结果。

2.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法，其特征在于，还包括：

从设置在机柜内的环境传感器获取机柜的环境信息，并根据所述环境信息确定待测卡件的环境检测结果；

而且，所述根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果，对所述待测卡件进行老化状态分析，包括：

根据所述外观检测结果、所述红外检测结果、所述信号检测结果和所述环境检测结果，对所述待测卡件进行老化状态分析。

3.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法，其特征在于，根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果，对所述待测卡件进行老化状态分析，以获取综合分析结果，包括：

根据预先设置的外观检测、红外检测、信号检测之间的权重比，对所述外观检测结果、所述红外检测结果、所述信号检测结果进行计算，以获取综合分析结果。

4.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法，其特征在于，根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果，包括：

从所述红外图像中识别出待测卡件的特定元器件，并确定所述特定元器件的发热信息，所述发热信息包括发热值和/或发热面积和/或发热时长；

将所确定出的所述特定元器件的发热信息与标准卡件的发热信息进行比较，并根据比较结果，确定红外检测评分值。

5.根据权利要求1所述的卡件的老化状态分析方法，其特征在于，根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果，包括：

将所获取的所述响应信号与标准卡件的相应响应信号进行比较，并根据比较结果，确定信号检测评分值。

6.根据权利要求2所述的卡件的老化状态分析方法，其特征在于，从设置在机柜内的环境传感器获取机柜的环境信息，包括：

从设置在机柜内的温度传感器和/或湿度传感器获取机柜的温度和/或湿度信息。

7.一种计算机产品，包括处理器，其特征在于，所述处理器在执行计算机程序时实现权利要求1-6任一项所述的卡件的老化状态分析方法的步骤。

8.一种存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在被处理器执行时实现权利要求1-6任一项所述的卡件的老化状态分析方法。

9.一种卡件的老化状态分析系统，其特征在于，包括后台主机以及设置在机柜内的前置机、红外热成像装置、测试信号源、采集控制装置，所述红外热成像装置、所述测试信号源及所述采集控制装置分别通过所述前置机与所述后台主机相连，且所述后台主机包括处理器，所述处理器在执行计算机程序时实现权利要求1-6任一项所述的卡件的老化状态分析方法的步骤。

10.根据权利要求9所述的卡件的老化状态分析系统，其特征在于，还包括：

设置在所述机柜内的环境传感器，且所述环境传感器通过所述前置机与所述后台主机相连。