[发明专利]一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法有效
申请号: | 202210581396.8 | 申请日: | 2022-05-26 |
公开(公告)号: | CN115046475B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 王晓龙;莫文琴 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(武汉) |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G06F17/10 |
代理公司: | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人: | 康靖 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 象限 探测器 高精度 激光 光斑 位置 检测 方法 | ||
1.一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:包括:
S1:根据无穷积分拟合算法,得到光斑位置实际值与解算值的关系;
S2:引入误差补偿因子函数,对光斑位置实际值与解算值的关系进行处理,得到光斑位置估计值与实际值之间的残余误差;光斑位置估计值与实际值之间的残余误差为:
其中,λe为等效光斑半径,n=1…N,为光斑的第n个位置点,Ln为光斑第n个位置点残余误差,σxn为光斑第n个位置点的解算值,xn为光斑第n个位置的实际值;
S3:根据最小二乘法原理,得到残余误差最小时对应的最优等效光斑半径;
S4:基于Tanh函数拟合算法,引入控制波形形状的参数,得到光斑位置实际值;
S5:根据光斑位置实际值,构建光斑位置残余误差的数学模型,使其平方和最小,得到最优的控制波形形状参数;
S6:根据得到的最优等效半径、最优的控制波形形状参数、构建的新的光斑位置表达式及新的光斑位置残余误差的数学模型,求得新的光斑位置表达式的参数,进而得到光斑位置。
2.如权利要求1所述的一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:步骤S1中,光斑位置实际值与解算值的关系为:
其中,x为光斑位置实际值,σx为光斑位置解算值,λ为高斯光斑的束腰半径,erf-1(·)为误差函数的反函数。
3.如权利要求1所述的一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:步骤S3中,最优等效光斑半径为:
其中,erf-1(·)为误差函数的反函数,n=1…N,为光斑的第n个位置点,σxn为光斑第n个位置点的解算值,xn为光斑第n个位置点的实际值。
4.如权利要求1所述的一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:步骤S4中,光斑位置实际值为:
其中,σx为光斑位置的解算值,α为引入的控制波形形状的参数。
5.如权利要求1所述的一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:步骤S5中,构建光斑位置残余误差的数学模型为:
其中,Jn为光斑第n个位置点残余误差,σxn为光斑第n个位置点的解算值,xn为光斑第n个位置点的实际值,α为引入的控制波形形状的参数。
6.如权利要求1所述的一种基于四象限探测器的高精度激光光斑位置检测方法,其特征在于:步骤S5中,最优的控制波形形状参数为:
其中,ε2(σxn)=ln((1+σxn)/(1-σxn)),n=1…N,为光斑的第n个位置点,σxn为光斑第n个位置点的解算值,xn为光斑第n个位置点的实际值。
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