[发明专利]一种用于半导体测试中的分离器接料块

说明书

本发明公开一种用于半导体测试中的分离器接料块，包括接料块，接料块上设置有一感应槽，感应槽的两侧分别设置有感应器，两侧感应器的感应光线分别从感应槽两侧射入形成对射；感应槽的槽体下侧设置有调节块，接料块下端两侧设置有固定块，两侧的固定块之间形成T形的调节槽，调节块也相应设置为T形，相应放置在调节槽中，调节块的上端面与槽体上侧壁构成整体感应槽。本发明中在固定块中间设置一个T形的调节槽，调节块的上端就与感应槽的侧壁构成整体的感应槽，而调节块又可以通过两侧设置的微调杆来调节上下位置，整体感应槽的尺寸就可以相应调节，以此配合两侧的感应器的对射光线的位置，调节起来较为方便准确，可相应提高工作效率。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，具体说是一种用于半导体测试中的分离器接料块。

背景技术

现有技术中，在半导体测试行业中半导体具体测试时，需要使用转塔式机械手通过分离器接料块将半导体产品从轨道里运送到吸嘴下进行测试，转塔式机械手在具体操作时是通过设置在接料块两侧的感应器所发射的感应光线的对射，得到信号后进行操作的，并且在停机检测或者是其他情况必要的时候，还需要关闭两侧的感应器。

现有技术中的分离器接料块多采用短切边的结构形式，内部设置一条固定尺寸的感应槽，与两侧的感应器配合使用；但是在具体工作时，两侧的感应器的感应光线在对射时需要对焦，而固定尺寸的感应槽会导致光源对射难以调整，影响工作效率。

另外，有时在工作时需要转塔机械手停机检测，那么就要关闭两侧的感应器，但是有时候机器停机的时间是非常短的或者是需要频繁停机的情况，工作人员还需要专门控制感应器的的开启和关闭，非常的麻烦，影响工作效率。

因此，为了解决上述问题，需要一种能够调节感应槽位置，从而提高工作效率的用于半导体测试中的分离器接料块。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种用于半导体测试中的分离器接料块；其技术方案如下：

一种用于半导体测试中的分离器接料块，包括接料块，该接料块上设置有一感应槽，该感应槽的两侧分别设置有感应器，两侧感应器的感应光线分别从感应槽两侧射入形成对射。

所述感应槽的槽体下侧设置有调节块，所述接料块下端两侧设置有固定块，两侧的固定块之间形成T形的调节槽，而所述的调节块也相应设置为T形，且相应放置在调节槽中，该调节块的上端面与槽体上侧壁构成整体感应槽。

两侧的固定块内部还嵌装有微调杆，微调杆从下方穿过固定块分别安装在调节块的两端，通过微调杆上下调整调节块的位置，可相应调节接料块上感应槽的大小，从而适应两侧的感应器的位置。

进一步地，两侧固定块上端面与调节块两侧下端面之间还安装有调节弹簧。

进一步地，所述微调杆设置为螺杆，两侧固定块内设置有螺孔，螺杆对应安装在螺孔内，调节块两侧下端面设置有调节座，螺杆端部对应安装在调节座内，螺杆可相应旋转，而螺杆的下端从固定块中伸出，且端部安装有调节手柄。

进一步地，所述调节块的中间位置处还设置有一竖向的隔断滑槽，该隔断滑槽内设置有一隔断滑块；该隔断滑块可在隔断滑槽内上下移动并固定，隔断滑块可向上划入至感应槽中将两侧感应器对射的感应光线隔断。

进一步地，所述调节块中间的隔断滑槽的两侧槽壁处还向外侧延伸设置有延伸槽，而设置在隔断滑槽内的隔断滑块的两侧壁上则相应设置有伸入至隔断滑槽内的延伸块；而所述延伸槽内又设置有间隔均匀设置的压紧弹簧，所述压紧弹簧的端部相应安装有压块，所述的压块设置成一体式的结构，设置成整块压板的结构形式，且压块相应在压紧弹簧的作用下压紧在伸入至隔断滑槽内的延伸块上。