[发明专利]一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法

说明书

本发明公开一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法，包括：将超声流量计的两个探头分别紧贴于液晶光栅的上下表面；开启超声流量计，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；控制液晶光栅的液晶部分的流向发生转向，并再次测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；重复上述步骤多次，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化，从而计算出液晶部分的截面尺寸；调整两个探头的位置，重复上述过程，计算出液晶部分的其它位置的截面尺寸；通过多个位置的截面尺寸绘制出液晶光栅的整体内部结构。本发明可以在不对液晶光栅进行破坏的情况下通过测量多个位置的截面尺寸从而构建出液晶光栅的内部结构。

技术领域

本发明属于属于内部结构测量技术领域，具体来说，涉及一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法，特别适用于化工、制药、膜加工等生产和科研过程中需要在无介入条件下测量液晶光栅内部结构分布与变化的场合。。

背景技术

内部结构测量是目前任何工业和科研上不可缺少的一种重要手段。通过测量液晶光栅的内部结构，我们可以直接或间接的获取其它重要的信息。在医学方面，我们通过测量体温可以判断一个人的健康情况；在制药过程中，高精度控制内部结构是制取高质量药品的重要保障；在航天上，把航天器的内部结构控制在一定范围内是整个航天项目的最重要任务之一。

虽然目前的尺寸测量技术已经非常的成熟，例如千分尺、激光测距、光学衍射等技术都可以精确地测量液晶光栅的内部结构，但是他们也有自身的局限性。例如，如果需要测量液晶光栅内部结构不得不将光栅切开，但是由于光栅是柔性材料而且尺寸极小，如果切割角度稍有有准确，就容易导致截面发生畸变，最终测量不准确。更甚者，大部分情况下光栅结构不允许破坏，比如玻璃光栅。

发明内容

针对现有技术存在的光栅内部结构在不被破坏的情况下不易测量的问题，本发明提供了一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法，该方法可以在无介入的条件下测量液晶光栅的内部三维结构。

为实现上述技术目的，本发明采用的技术方案如下：

一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法，包括：

(1)将超声流量计的两个探头分别紧贴于液晶光栅的上下表面；

(2)开启超声流量计，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；

(3)控制液晶光栅的液晶部分的流向发生转向，并再次测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；

(4)重复步骤(1)-(3)的过程多次，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化，从而计算出液晶部分的截面尺寸；

(5)调整两个探头的位置，重复步骤(1)-(4)的过程，计算出液晶部分的其它位置的截面尺寸；

(6)通过步骤(5)中多个位置的截面尺寸绘制出液晶光栅的整体内部结构。

优选地，所述控制液晶光栅的液晶部分的流向发生转向是通过开启电子光栅以电场驱动的方式控制其流向发生转向。

优选地，所述超声流量计的测量精度比液晶光栅的刀具半径精度至少高一个数量级。

本发明相比现有技术，具有如下有益效果：

(1)、测量液晶光栅内部结构过程中，无需破坏待测液晶光栅；

(2)、被测液晶光栅处于运动状态下也能够对其内部结构进行测量；

(3)、根据超声流量计对液晶光栅不同的截面的尺寸进行测量，从而构建出液晶光栅的3D内部结构图。

附图说明

图1为一般液晶光栅的结构示意图；

图2为本发明实施例利用超声测量液晶光栅内部结构的方法流程图。

具体实施方式