[发明专利]一种数控铣床用接触式工件有线测头

说明书

本发明公开了一种数控铣床用接触式工件有线测头，包括非接触式探头和接触式探头，还包括定位基架，所述非接触式探头和接触式探头均通过伸缩收纳机构设置在定位基架上，且所述定位基架上设有与三轴运动台连接的连接法兰，且所述伸缩收纳机构上与接触式探头以及非接触式探头相配合的清扫机构，且所述清扫机构用于对工件需要检测的表面进行清扫，所述伸缩收纳机构还设有与非接触式探头配合的且对工件进行遮光的遮光机构。本发明将非接触式探头和接触式探头复合在定位基架上，并通过伸缩收纳机构进行伸缩控制，利用非接触式探头和接触式探头进行检测，将接触式测量和非接触式测量结合在一起，从而有效提高了测量的精度以及准确度。

技术领域

本发明涉及工件测量技术领域，具体为一种数控铣床用接触式工件有线测头。

背景技术

在进行机械加工时，当一道工序完成后，需要对其加工尺寸进行检测，一些工件的体积较大，人工测量不方便，需要使用检测装置进行测量，当下三坐标测量机不仅能在计算机控制下完成各种复杂测量，而且可以通过与数控机床交换信息，实现对加工的控制，而且还可以根据测量数据实现反求工程，是现代工业检测和质量控制不可缺少的通用型几何量测量仪器。三坐标测量机通过测头来拾取信号，现有触发式和模拟式两种工作方式，触发式测头主要用于接触判断，当测端接触到被测体时，测头发出一个脉冲信号，此时坐标测量机的标尺系统记录当前坐标值。这种工作方式在测量规则几何特征(圆弧、直线等)时有很高的效率，但不适合于测量自由曲面等几何特征；模拟式测头可以连续输出测端的位移信息，适用于测量自由曲面等非规则几何特征；而现有的有线测头由于加工后产品表面残留一些铁屑和其他杂物，这些会直接影响测量结果；并且不能配合非接触的测头进行使用，导致检测结果存在一定的误差。因此我们对此做出改进，提出一种数控铣床用接触式工件有线测头。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

本发明一种数控铣床用接触式工件有线测头，包括非接触式探头和接触式探头，还包括定位基架，所述非接触式探头和接触式探头均通过伸缩收纳机构设置在定位基架上，且所述定位基架上设有与三轴运动台连接的连接法兰，且所述伸缩收纳机构上与接触式探头以及非接触式探头相配合的清扫机构，且所述清扫机构用于对工件需要检测的表面进行清扫，所述伸缩收纳机构还设有与非接触式探头配合的且对工件进行遮光的遮光机构。

作为本发明的一种优选技术方案，所述伸缩收纳机构包括设置在定位基架上的水平横向设置的定位板，所述定位板上设有平行设置的转动螺杆和限位光杆，且所述转动螺杆上设沿转动螺杆移动的滑动块，所述限位光杆上设有沿限位光杆移动的限位套筒，且所述限位套筒与滑动块固定，所述滑动块设有水平设置的伸缩架，所述伸缩架上的前端设有安装块，且所述非接触式探头和接触式探头均设置在相应的安装块上，所述定位板上设有驱动转动螺杆转动的伺服电机。

作为本发明的一种优选技术方案，所述伺服电机的机轴上设有对伺服电机的运动状态进行检测的编码器，所述定位板还设有对移动块的移动距离进行检测的位移传感器。

作为本发明的一种优选技术方案，所述清扫机构包括设置在安装块外围的定位环块，所述定位环块的外围设有沿定位环块旋转的旋转外圈，且所述旋转外圈上设有用于罩住接触式探头或非接触式探头的旋转套筒，且所述旋转套筒的端部设有对工件表面进行清洁的毛刷；且所述安装块上设有驱动定位环块转动的驱动机构。

作为本发明的一种优选技术方案，所述驱动机构包括设置定位环块外侧的外齿圈，所述安装块上设有与外齿圈啮合传动的传动齿轮，安装块上设有驱动传动齿轮转动的驱动电机。

作为本发明的一种优选技术方案，所述定位环块上设有与旋转套筒内腔连通的进气管，且所述进气管的外端部经导气管连接供气系统。

作为本发明的一种优选技术方案，所述遮光机构包括设置在定位环块外围的且位于旋转套筒内壁的定位筒，所述定位筒内设有沿定位筒端部环形设置的环形伸缩腔，所述环形伸缩腔内设有若干个伸缩板，且若干个伸缩板围合组成遮光罩，每个所述伸缩板的内端部与环形伸缩腔之间设有压紧弹簧。