[发明专利]一种射频发射系统测试方法、系统和设备在审

专利信息
申请号: 202210605378.9 申请日: 2022-05-30
公开(公告)号: CN115001600A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 王连友 申请(专利权)人: OPPO广东移动通信有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 吴晓霞
地址: 523860 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 发射 系统 测试 方法 设备
【说明书】:

本公开实施例提供一种射频发射系统测试方法、系统和电子设备。所述方法包括:根据设定的测试模式,向待测试的射频发射系统发送所述测试模式对应的测试输入数据;根据所述测试模式,确定对应到信号分析仪的数据接收端口;根据所述测试输入数据,所述射频发射系统执行测试后,将测试执行结果发送到所述信号分析仪的数据接收端口;其中,所述测试模式包括:基带模式、射频模式和基带‑射频综合模式。根据本公开实施例提供的射频发射系统测试方案,可以有选择地单独进行基带芯片测试、射频模块测试或整体性综合测试,显著提高了射频发射系统的测试灵活性,有效缩小了故障定位范围,提高了整体系统的测试效率。

技术领域

本公开涉及但不限于无线通信领域,具体涉及一种射频发射系统测试方法、系统和电子设备。

背景技术

无线通信已经成为人们日常生活中必不可少的通信方式,各式各样的无线通信设备或终端层出不穷。无线通信设备或终端中包括的射频发射系统,在设计和/或生产阶段都需要对射频发射系统进行测试。

建立科学合理测试机制对射频发射系统进行测试,是提高测试效率,进而整体提升射频发射设备开发生产效率的重要环节。

发明内容

本公开实施例提供一种射频发射系统测试方法、系统和电子设备,针对射频发射系统中的两大核心模块——基带芯片+射频模块,根据设定的测试模式,可以有选择地单独进行基带芯片测试、射频模块测试或整体性(基带-射频)测试,显著提高了射频发射系统的测试灵活性,有效缩小了故障定位范围,提高了整体系统的测试效率。

本公开实施例提供一种射频发射系统测试方法,包括:

根据设定的测试模式,向待测试的射频发射系统发送所述测试模式对应的测试输入数据;

根据所述测试模式,确定对应到信号分析仪的数据接收端口;

根据所述测试输入数据,所述射频发射系统执行测试后,将测试执行结果发送到所述信号分析仪的数据接收端口;

其中,所述测试模式包括:基带模式、射频模式和基带-射频综合模式。

本公开实施例还提供一种射频发射系统测试方法,包括:

获取与设定的测试模式相对应的测试输入数据;

根据所述测试模式,确定信号分析仪的数据接收端口;

根据所述测试输入数据,执行测试后,将测试执行结果发送到所述信号分析仪的数据接收端口;

其中,所述测试模式包括:基带模式、射频模式和基带-射频综合模式。

本公开实施例还提供一种射频发射系统测试方法,包括:

根据设定的测试模式,向待测试的射频发射系统发送所述测试模式对应的测试输入数据,并指示所述射频发射系统执行测试;

指示信号分析仪在数据接收端口上接收来自所述射频发射系统的测试执行结果;

其中,所述测试模式包括:基带模式、射频模式和基带-射频综合模式;

所述数据接收端口为根据所述测试模式所确定的数据接收端口。

本公开实施例还提供一种射频发射系统测试系统,包括:

测试管理子系统、射频发射系统和信号分析仪;

所述测试管理子系统设置为,根据设定的测试模式,向待测试的所述射频发射系统发送所述测试模式对应的测试输入数据;

所述射频发射系统设置为,根据所述测试模式,确定对应到所述信号分析仪的数据接收端口;还设置为根据所述测试输入数据,执行测试后,将测试执行结果发送到所述信号分析仪的数据接收端口;

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