[发明专利]一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管在审

专利信息
申请号: 202210618153.7 申请日: 2022-06-01
公开(公告)号: CN114883463A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 张雄;徐一峰;胡国华;崔一平 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/04
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 任志艳
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 光子 晶体 反射层 结构 发光二极管
【权利要求书】:

1.一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,包括由下而上依次设置的光子晶体反射层(101)、衬底(102)、氮化物缓冲层(103)、n型氮化物层(104)、多量子阱结构(105)、电子阻挡层(106)、p型氮化物层(107)和透明导电层(108);

所述发光二极管还包括n型电极(109)和p型电极(110),n型电极(109)设置在n型氮化物层(104)表面,p型电极(110)设置在透明导电层(108)上表面。

2.根据权利要求1所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述光子晶体反射层(101)包括层叠设置的3~5个周期结构单元,每个周期结构单元包括由上而下依次设置的TiO2层(1011)、Ag层(1012)、SiO2层(1013)和Pt层(1014),光子晶体反射层(101)的层厚度为450~750nm。

3.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,周期结构单元中的TiO2层(1011)的厚度为25~35nm、Ag层(1012)的厚度为60~75nm、SiO2层(1013)的厚度为30~40nm、Pt层(1014)的厚度为30~45nm。

4.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述的p型氮化物层(107)的厚度为20~1000nm;

p型氮化物层(107)可采用组分均匀的p型二元氮化物、组分均匀的p型三元氮化物、组分均匀的p型四元氮化物、组分渐变的p型三元氮化物或组分渐变的p型四元氮化物;

p型氮化物层(107)使用Mg元素进行p型掺杂,掺杂形成的空穴浓度为1x1016~1x1019cm-3

所述p型二元氮化物为InN、GaN或AlN;所述p型三元氮化物为AlGaN或InGaN;

所述p型四元氮化物为AlInGaN。

5.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述电子阻挡层(106)为AlN或BN氮化物,其厚度为2~20nm。

6.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,多量子阱结构(105)的周期设置的势阱和势垒,周期数为3~15,每个周期的长度为4~15nm,势阱和势垒材料不同,势阱和势垒均可采用组分均匀的二元氮化物、组分均匀的三元氮化物、组分均匀的四元氮化物、组分渐变的三元氮化物或组分渐变的四元氮化物。

7.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述n型氮化物层(102)的厚度为0.5~5μm;

n型氮化物层(102)可采用组分均匀的n型二元氮化物、组分均匀的n型三元氮化物、组分均匀的n型四元氮化物、组分渐变的n型三元氮化物或组分渐变的n型四元氮化物;

其中,n型二元氮化物为InN、GaN或AlN;n型三元氮化物为AlGaN或InGaN;n型四元氮化物为AlInGaN;

该n型氮化物层(102)采用Si元素进行n型掺杂,掺杂形成的电子浓度为1x1017~1x1021cm-3

8.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述氮化物缓冲层(103)采用组分均匀的二元或三元氮化物;

或者,氮化物缓冲层(103)采用组分渐变的三元氮化物;

其中,二元氮化物为InN、GaN或AlN;三元氮化物为AlGaN或InGaN。

9.根据权利要求2所述一种具有光子晶体反射层结构的发光二极管,其特征在于,所述衬底(102)可采用极性、半极性或非极性取向的蓝宝石、碳化硅、硅、氧化锌、氮化镓或氮化铝材料。

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