[发明专利]一种低成本高隔离度的芯片通信测试系统

权利要求书

1.一种低成本高隔离度的芯片通信测试系统，其特征在于，包括:

一待测芯片，所述待测芯片设置于一测试板上，用于发射一第一射频信号；

一配合测试芯片，设置于所述测试板上，用于发射一第二射频信号；

一调节模块，设置于所述待测芯片和所述配合测试芯片之间，包括：

一第一链路，用于对所述第一射频信号进行调节得到一调节后第一射频信号并将所述调节后第一射频信号发射至所述配合测试芯片进行解调；

一第二链路，用于对所述第二射频信号进行调节得到一调节后第二射频信号并将所述调节后第二射频信号发射至所述待测芯片进行解调；

一测试机，分别连接所述调节模块、所述待测芯片和所述配合测试芯片，用于根据所述调节后第二射频信号对应的解调结果得到一第一衰减量，并根据所述调节后第一射频信号对应的解调结果得到一第二衰减量，以及根据所述第一衰减量、所述第二衰减量和预先测量得到的所述配合测试芯片的一第一发射功率以及一第一接收灵敏度处理得到所述待测芯片的一第二发射功率和一第二接收灵敏度。

2.根据权利要求1所述的芯片通信测试系统，其特征在于，所述待测芯片通过一分选机连接所述测试板。

3.根据权利要求1所述的芯片通信测试系统，其特征在于，还包括一第一滤波电路，分别连接所述待测芯片和调节模块，用于滤除所述第一射频信号之外的信号。

4.根据权利要求1所述的芯片通信测试系统，其特征在于，还包括一第二滤波电路，分别连接所述配合测试芯片和所述调节模块，用于滤除所述第二射频信号之外的信号。

5.根据权利要求1所述的芯片通信测试系统，其特征在于，所述第一链路包括：

一第一衰减电路，用于对所述第一射频信号的功率进行衰减得到一第一衰减信号；

一第一混频电路，连接所述第一衰减电路，用于对所述第一衰减信号的功率进行变频得到一第一变频信号；

一第二衰减电路，连接所述第一混频电路，用于对所述第一变频信号进行衰减得到一第二衰减信号；

一第二混频电路，连接所述第二衰减电路，用于对所述第二衰减信号进行变频得到一第二变频信号；

一第三衰减电路，连接所述第二混频电路，用于对所述第二变频信号进行衰减得到所述调节后第一射频信号并将所述调节后第一射频信号发射至所述配合测试芯片。

6.根据权利要求5所述的芯片通信测试系统，其特征在于，所述第二链路中，通过所述第三衰减电路对所述第二射频信号进行衰减得到一第三衰减信号，通过所述第二混频电路对所述第三衰减信号进行变频得到一第三变频信号，通过所述第二衰减电路对所述第三变频信号进行衰减得到一第四衰减信号，通过所述第一混频电路对所述第四衰减信号进行变频得到一第四变频信号，通过所述第一衰减电路对所述第四变频信号进行衰减得到所述调节后第二射频信号并将所述调节后第二射频信号发射至所述待测芯片。

7.根据权利要求6所述的芯片通信测试系统，其特征在于，所述第一混频电路连接一第一时钟电路，用于输出一第一时钟信号至所述第一混频电路以控制所述第一混频电路根据所述第一时钟信号对所述第一衰减信号或所述第四衰减信号进行变频。

8.根据权利要求6所述的芯片通信测试系统，其特征在于，所述第二混频电路连接一第二时钟电路，用于输出一第二时钟信号至所述第二混频电路以控制所述第二混频电路根据所述第二时钟信号对所述第二衰减信号或所述第三衰减信号进行变频。